[发明专利]通过减少内存需求平均化的下采样在审

专利信息
申请号: 201610099808.9 申请日: 2016-02-24
公开(公告)号: CN105915223A 公开(公告)日: 2016-08-31
发明(设计)人: B·勒纳;G·G·卡拉纳姆 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: H03M1/12 分类号: H03M1/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金晓
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请涉及通过减少内存需求平均化的下采样。公开了一种用于使用平均化通过包括整数部分i的抽取系数d下采样信号的数字样本xn,...的方法。该方法包括:基于抽取因子和用于平均化的N个样本识别部分和,作为(N‑i)个样本xn+i,...xn+N‑1的总和Sn+i,n+N‑1;计算部分和;计算N个数字样本xn,...xn+N‑1的第一集合的第一总和Sn,n+N‑1,作为i个数字样本xn,...xn+i‑1和所计算的部分和的总和;计算N个数字样本xn+i,...xn+i+N‑1的第二集合的第二总和Sn+i,n+i+N‑1,作为i个数字样本的集合xn+N,...xn+i+N‑1和所计算的部分和的总和;至少部分基于第一总和和第二总和,下采样所述数字样本。
搜索关键词: 通过 减少 内存 需求 平均 采样
【主权项】:
一种用于使用平均化通过包括整数部分i的抽取系数d下采样信号的数字样本xn,Xn+1...的方法,该方法包括:基于抽取因子和用于平均化的N个样本识别部分和,作为(N‑i)个样本xn+i,...xn+N‑1的总和Sn+i,n+N‑1;计算部分和Sn+i,n+N‑1;计算N个数字样本xn,...xn+N‑1的第一集合的第一总和Sn,n+N‑1,作为i个数字样本xn,...xn+i‑1和所计算的部分和的总和Sn+i,n+N‑1;计算N个数字样本xn+i,...xn+i+N‑1的第二集合的第二总和Sn+i,n+i+N‑1,作为i个数字样本的集合xn+N,...xn+i+N‑1和所计算的部分和的总和Sn+i,n+N‑1;以及至少部分基于第一总和Sn,n+N‑1和第二总和Sn+i,n+i+N‑1,下采样所述数字样本。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美国亚德诺半导体公司,未经美国亚德诺半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610099808.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top