[发明专利]肖特基二极管及其制作方法在审
申请号: | 201610100214.5 | 申请日: | 2016-02-23 |
公开(公告)号: | CN107104154A | 公开(公告)日: | 2017-08-29 |
发明(设计)人: | 刘美华;孙辉;林信南;陈建国 | 申请(专利权)人: | 北京大学;北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/41;H01L21/329 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 马爽,黄健 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种肖特基二极管及其制作方法,涉及半导体元器件技术领域。该肖特基二极管包括半导体有源层、覆盖在半导体有源层上的介质层;穿过介质层,且与半导体有源层接触的阴极和阳极,阳极包括第一导电部和第二导电部,第二导电部覆盖第一导电部的侧壁和顶面,且第二导电部的功函数大于所述第一导电部的功函数。解决了现有GaN基AlGaN/GaN材料的肖特基二极管存在的耐压能力差、损耗大的问题。 | ||
搜索关键词: | 肖特基 二极管 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种肖特基二极管,其特征在于,包括:半导体有源层、覆盖在所述半导体有源层上的介质层;穿过所述介质层,且与所述半导体有源层接触的阴极和阳极,所述阳极包括第一导电部和第二导电部,所述第二导电部覆盖所述第一导电部的侧壁和顶面,且所述第二导电部的功函数大于所述第一导电部的功函数。
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