[发明专利]芯片测试方法及系统

摘要

一种芯片测试方法及系统，所述芯片测试系统包括：芯片夹具、测试板以及测试机，其中：芯片夹具，适于固定进行测试的芯片；对所述芯片进行测试操作，并将所述芯片生成的与所述测试操作对应的反馈信号转发至所述测试板；测试板，与芯片夹具电连接，适于向测试机发送自身的标识信号；以及接收所述反馈信号并转发至所述测试机；测试机，适于向测试板发送测试激励信号；选取与标识信号对应的测试程序段，并向测试板发送与所述测试程序段对应的测试操作信号；根据接收到的所述反馈信号判断芯片是否与所述测试板匹配；并当芯片与测试板不匹配时，向报警装置发出报警指令。采用所述方法及系统，可以避免芯片测试过程中出现混料。

主权项

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：芯片夹具、测试板以及测试机，其中：所述芯片夹具，适于固定进行测试的芯片，并设置有适于与所述芯片的引脚电连接的测试接口；在接收到所述测试板转发的测试操作信号时，对所述芯片进行测试操作，并将所述芯片生成的与所述测试操作信号对应的反馈信号转发至所述测试板；所述测试板，与所述芯片夹具电连接，适于当接收到所述测试机发送的测试激励信号时，向所述测试机发送自身的标识信号；当接收到所述测试机发送的测试操作信号时，将所述测试操作信号转发至所述芯片夹具；以及接收所述反馈信号并转发至所述测试机；所述测试板包括：通道分配电路，所述通道分配电路包括与所述芯片的引脚一一对应且电连接的端口，且所述通道分配电路与所述测试板一一对应；所述测试板适于当接收到所述测试机发送的测试操作信号时，为所述通道分配电路的每一个所述端口分配一一对应的通道信号，并将所述通道信号发送至所述芯片夹具；所述反馈信号为所述芯片的引脚在接收到经由所述芯片夹具发送的所述通道信号后产生的反馈组合生成，所述产生的反馈包括反馈电流或反馈电压；所述测试机，安装有用于测试所述芯片的测试程序，适于向所述测试板发送测试激励信号；当接收到所述测试板发送的标识信号时，选取与所述标识信号对应的测试程序段，生成与所述测试程序段对应的测试操作信号并发送至所述测试板；当接收到所述测试板转发的所述反馈信号时，判断所述芯片是否与所述测试板匹配；并当所述芯片与所述测试板不匹配时，向报警装置发出报警指令。