[发明专利]一种基于EOF分解的电离层垂直总电子含量短期预报方法在审
| 申请号： | 201610102061.8 | 申请日： | 2016-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN105808821A | 公开（公告）日： | 2016-07-27 |
| 发明（设计）人： | 胡伍生;王松寒;韩理想 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 柏尚春 |
| 地址： | 210096*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于EOF分解的电离层垂直总电子含量短期预报方法，其特征在于：包括以下的步骤：S1：对区域电离层VTEC数据进行EOF分解；S2：利用时间序列模型对步骤S1分解得到的时间分量数据进行预测；S3：根据EOF重构方程，将空间分量和预测得到的时间分量进行重构，得到电离层VTEC的预测值。本发明通过将电离层垂直总电子含量数据进行EOF分解，有效的把随时间变化的变量场分解为不随时间变化的空间函数部分以及只依赖时间变化的时间函数部分，实现了VTEC的预报；本发明对EOF分解出来的只依赖时间变化的时间分量部分利用时间序列模型进行预测，然后将预测结果与不随时间变化的空间函数部分进行EOF重构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 eof 分解 电离层 垂直 电子 含量 短期 预报 方法 | ||
【主权项】：
一种基于EOF分解的电离层垂直总电子含量短期预报方法，其特征在于：包括以下的步骤：S1：对区域电离层VTEC数据进行EOF分解；S2：利用时间序列模型对步骤S1分解得到的时间分量数据进行预测；S3：根据EOF重构方程，将空间分量和预测得到的时间分量进行重构，得到电离层VTEC的预测值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学，未经东南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610102061.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
