[发明专利]一种连续太赫兹目标散射测量控制系统有效

专利信息
申请号: 201610104496.6 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN105676214B 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 李琦;樊长坤;周毅;赵永蓬;陈德应 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01S13/02 分类号: G01S13/02;G01S7/02
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 代理人: 杨立超
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种连续太赫兹目标散射测量控制系统,属于太赫兹探测技术领域。为了解决现的测量系统在测量过程中需要手动不断地调整位移台来对信号进行采集,存在浪费时间、操作失误率较高的问题。所述控制系统包括位移台控制模块、采样控制模块和数据存储模块,位移台控制模块包括手动调节子模块和自动测量子模块;手动调节子模块,用于用户通过手动调节利用位移台来控制待测物和校准物的位置;自动测量子模块,用于输入自动测量时需要位移参数和开启自动测量;采样控制模块,用于采集待测物、校准物在太赫兹频段下照射的散射回波信号,以及用于设置采集参数。实现在研究太赫兹目标散射特性时分别准确测量校准物和不同角度的待测物的散射回波信号峰峰值。
搜索关键词: 一种 连续 赫兹 目标 散射 测量 控制系统
【主权项】:
一种连续太赫兹目标散射测量控制系统,其特征在于,所述控制系统包括:位移台控制模块、采样控制模块和数据存储模块,位移台控制模块,用于控制计算机通过USB口与电位移控制箱的连接,实现对三个位移台:X轴平动台、Y轴转动台、Z轴平动台的控制;位移台控制模块包括手动调节子模块和自动测量子模块;手动调节子模块,用于用户通过手动调节利用位移台来控制待测物和校准物的位置,所述Y轴转动台位于X轴平动台的上方,将所述待测物置于Y轴转动台上,所述校准物置于Z轴平动台上;经调节后确定自动测量子模块进行自动测量时需要输入的参数:“X轴平移量”、“Z轴平移量”、“Y轴转动角度”和“Y轴转动次数”,即:X轴平动台的平移量、Z轴平动台的平移量、Y轴转动台的转动角度、Y轴转动台的转动次数;自动测量子模块,用于自动采集预设次数的待测物和校准物的散射回波信号的峰峰值;采样控制模块,用于采集待测物、校准物在太赫兹频段下照射的散射回波信号,以及用于设置采集参数:斩波器频率、采样间隔、采样倍率、电压幅值、测量次数及等待时间;数据存储模块,用于将采样的得到的数据以ASCII码的形式保存成一个dat文件,其中所采集的散射回波信号峰峰值会以矩阵形式保存,其文件名为“peak+‘进行采样时的时间’”,通过所采集的数据算得的平均值和标准差的文件名为“ave&SD+‘进行采样时的时间’”,待测物和校准物的比值的文件名为“ratio+‘进行采样时的时间’”。
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