[发明专利]一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法在审
| 申请号： | 201610107562.5 | 申请日： | 2016-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN105651717A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 李喆;古春;郭旭东 | 申请（专利权）人： | 成都市国土规划地籍事务中心 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 成都泰合道知识产权代理有限公司 51231 | 代理人： | 向晟;孙恩源 |
| 地址： | 610071 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于一种植被光谱识别方法，具体公开一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法，该方法包括如下步骤：(1)以微分法对原始光谱曲线进行前置处理，对原始光谱曲线波段上各采样点计算其二阶微分量，从而得到二阶微分曲线，并利用二阶微分曲线对原始光谱做去噪预处理；(2)对噪音去除后的光谱曲线去包络线处理，得到去包络线光谱曲线；(3)微分法遍历去包络线光谱曲线的吸收峰峰值点及其左右肩；(4)吸收峰吸收特征强度计算。该方法综合运用微分法与包络线去除法进行植被光谱曲线特征吸收峰的自动识别，能够克服目前植被光谱特征吸收峰识别过程中吸收峰位置与吸收强度难以准确识别的缺陷，提高植被光谱特征识别的准确率与直观性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 植被 光谱 特征 吸收 自动识别 方法 | ||
【主权项】：
一种植被光谱特征吸收峰自动识别方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：(1)、以微分法对原始光谱曲线进行前置处理，对原始光谱曲线波段上各采样点按公式：![]()
计算其二阶微分量，从而得到二阶微分曲线，并利用二阶微分曲线对原始光谱曲线进行去噪预处理，其中，λι代表波段上第i个采样点的波长；Ri代表波段上第i个采样点的原始光谱反射率；SDRi代表波段上第i个采样点的二阶微分，i＝1,2......N，N为样本点数，即二阶微分曲线在波段上的总点数；(2)、对噪音去除后的光谱曲线去包络线处理，得到去包络线光谱曲线；(3)、微分法遍历去包络线光谱曲线的吸收峰峰值点及其左右肩；(4)、吸收峰吸收特征强度计算。
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