[发明专利]超级结功率器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201610107822.9 申请日: 2016-02-26
公开(公告)号: CN107134492B 公开(公告)日: 2020-01-14
发明(设计)人: 刘磊;龚轶;袁愿林;刘伟 申请(专利权)人: 苏州东微半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 11369 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 史霞
地址: 215000 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的公开了一种超级结功率器件包括:第一掺杂类型的衬底外延层,其内设置有第一掺杂类型的漏区和若干个侧壁倾斜的第二掺杂类型的柱状外延掺杂区;第二掺杂类型的体区,其设置在每个所述柱状外延掺杂区的顶端,所述体区内设有第一掺杂类型的源区;JFET区,其位于每两个相邻的所述体区之间,所述体区和JFET区之上设有栅氧化层,所述栅氧化层之上设有栅极;其中,所述柱状外延掺杂区的侧壁两侧及底部的衬底外延层内设有第二掺杂类型的补偿注入区。本发明的超级结功率器件能够在保持导通电阻基本不变的条件下提高击穿电压,并改善其反向恢复特性,而且制造工艺简单,易于实现。
搜索关键词: 超级 功率 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种超级结功率器件,其特征在于,包括:/n第一掺杂类型的衬底外延层,其内设置有第一掺杂类型的漏区和若干个侧壁倾斜的第二掺杂类型的柱状外延掺杂区;/n第二掺杂类型的体区,其设置在每个所述柱状外延掺杂区的顶端,所述体区内设有第一掺杂类型的源区;/nJFET区,其位于每两个相邻的所述体区之间,所述体区和JFET区之上设有栅氧化层,所述栅氧化层之上设有栅极;/n其中,所述柱状外延掺杂区的侧壁两侧及底部的衬底外延层内设有第二掺杂类型的补偿注入区;/n所述补偿注入区的掺杂浓度不高于所述柱状外延掺杂区的掺杂浓度。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州东微半导体有限公司,未经苏州东微半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610107822.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top