[发明专利]一种基于开关电路的微电容差检测方法有效

专利信息
申请号: 201610110884.5 申请日: 2016-02-22
公开(公告)号: CN105652099B 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 吕晓洲;谢楷 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 西安知诚思迈知识产权代理事务所(普通合伙) 61237 代理人: 麦春明
地址: 710065*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于开关电路的微电容差检测方法,该开关电路包括可变电压源V1、可变电压源V2、电子开关S1、电子开关S2、待测电容传感器输出电容、参考电容、放大电路。所述的电子开关S1一端与可变电压源V1相连,另一端与待测传感器输出电容一端相连,待测电容传感器输出电容另一端接地;所述的电子开关S2一端与可变电压源V2相连,另一端与参考电容一端相连,参考电容另一端接地;所述的电子开关S1和电子开关S2并联后与放大电路一端相连,放大电路另一端为输出电压。本发明可实现直接测量电容传感器的输出电容变化量,消除了本底电容对测量结果的影响;本发明测量分辨率取决于电子开关导通次数n,可根据需求实现测量分辨率的连续可变。
搜索关键词: 一种 基于 开关电路 电容 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于开关电路的微电容差检测方法,其特征在于,该开关电路包括可变电压源V1(1)、可变电压源V2(4)、电子开关S1(2)、电子开关S2(5)、待测电容传感器输出电容CX(3)、参考电容CR(6)、放大电路(7),所述的电子开关S1(2)一端与可变电压源V1相连,另一端与待测传感器输出电容Cx(3)一端相连,待测传感器输出电容Cx(3)另一端接地;所述的电子开关S2(5)一端与可变电压源V2(4)相连,另一端与参考电容CR(6)一端相连,参考电容CR(6)另一端接地;所述的电子开关S1(2)和电子开关S2(5)并联后与放大电路(7)一端相连,放大电路(7)另一端为输出电压;该检测方法包括如下步骤:可变电压源V1通过电子开关S1给待测电容传感器输出电容充放电,可变电压源V2通过电子开关S2给参考电容充放电,电子开关S1和电子开关S2并联之后为放大电路供电,当电子开关S1闭合时,电子开关S2断开,当电子开关S2闭合时,电子开关S1断开,通过以下公式计算充放电一次输出的电荷:V1CX‑V2CR在放大电路输出端会产生电压:那么每充放电一次,就会在放大电路的输入端积累电荷V1CX‑V2CR,充放电n次,就可以累积电荷:(V1CX‑V2CR)n累积电荷再通过放大电路可在放大电路输出端产生电压:在静态时,调节可变电压源V1或可变电压源V2使输出为0;动态时,改变待测电容传感器输出电容CX,则有输出:已知CK,n,V1,测量出电压VOUT,通过公式:即可计算得出电容变化量,且测量分辨率取决于电容充放电次数n。
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