[发明专利]一种电气设备缺陷检测用紫外双光谱检测仪

摘要

本发明公开了紫外双光谱检测仪使用的紫外传感器和可见光传感器设计技术、紫外/可见光双光谱探测光学子系统设计技术、基于FPGA和DSP的图像双光谱图像检测硬件平台的设计技术、基于小波变换的适合双光谱图像检测系统的图像融合技术。技术的创新点主要是紫外传感器(紫外透镜、日盲滤光片、日盲ICCD探测器等)设计制造方法及工艺、可见光传感器设计制造方法及工艺、紫外/可见光双光谱探测光学子系统设计制造方法及工艺、基于FPGA和DSP的图像双光谱图像检测硬件平台、基于小波变换的适合双光谱图像检测系统的图像融合方法。项目开发的紫外电晕检测相关技术、设备产品，可以及时准确地检测电晕放电的位置和强弱。

主权项

电气设备缺陷检测用紫外双光谱检测仪其权利特征如下：1.紫外/可见光双光谱探测光学子系统设计技术；光子成像计数技术可以解决对极其微弱的光信号成像的问题。在强光信号激励下，光电阴极发射的光电子很多，这些光电子经倍增管和信号放大电路后产生的脉冲互相重叠，输出信号为这些脉冲信号的集合。当光信号较弱时，对应每个光子产生的输出脉冲互相独立，光信号可用脉冲计数法测量，即每秒脉冲数。当使用的探测器是二维成像器件时称为计数成像。2.紫外传感器(紫外透镜、日盲滤光片、日盲ICCD探测器等)设计技术；紫外通道仅对放电发光区域进行成像，看不到场景，为了能定位放电位置，采用了图像融合算法将紫外图像叠加到了可见光图像上，从而显示出放电位置。3.基于FPGA和DSP的图像双光谱图像检测硬件平台的设计技术；CCD驱动时序可以采用直接数字电路、单片机、EPREOM、微处理器或数字信号处理器(DSP)和可编程器件产生。FPGA是第4代可编程器件，它将定制ASIC的高集成度、高性能的优点与可编程器件灵活性优点结合在一起，从而避免了定制ASIC的高成本、高风险、长设计周期和可编程器件密度低的缺点。4.基于小波变换的适合双光谱图像检测系统的图像融合技术；图像融合是采用某种算法对两幅或多幅不同的图像进行综合与处理，最终形成一幅新的图像。根据融合处理所处的不同阶段，图像融合的处理通常可在以下三个不同层次上进行：像素级融合、特征级融合和判决级融合。