[发明专利]倒装芯片键合装置及键合方法有效
申请号: | 201610113099.5 | 申请日: | 2016-02-29 |
公开(公告)号: | CN107134418B | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
发明(设计)人: | 陈飞彪;戈亚萍;郭耸;齐景超 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/60 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种倒装芯片键合装置及键合方法,所述键合装置包括:供应单元,从载片中分离倒装芯片及提供所述倒装芯片,其包括翻转装置;转接单元,从所述翻转装置接合所述倒装芯片;位置调整单元,调整所述转接单元上倒装芯片的位置;键合单元,将所述转接单元上的倒装芯片键合到基底上;传输单元,传输所述转接单元;控制单元,控制上述各单元的运动;转接单元能够接合多个倒装芯片,由此一次能够完成多个倒装芯片的键合,节省了键合时间,提高了键合产率;并且在所述转接单元传输的过程中经过位置调整单元,由位置调整单元对转接单元上的倒装芯片的位置进行调整,从而保证后续键合过程中倒装芯片位置的精度,从而实现高精度的键合。 | ||
搜索关键词: | 倒装 芯片 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种倒装芯片键合装置,其特征在于,包括:供应单元,被配置为从载片中分离倒装芯片及提供所述倒装芯片;所述供应单元包括翻转装置,用于拾取并翻转所述倒装芯片,以使所述倒装芯片的上表面和下表面颠倒;转接单元,被配置为从所述翻转装置接合所述倒装芯片,所述转接单元能够接合多个倒装芯片;位置调整单元,被配置为调整所述转接单元上倒装芯片的位置;键合单元,被配置为将所述转接单元上的倒装芯片键合到基底上;传输单元,被配置为在X方向上传输所述转接单元;所述供应单元、位置调整单元与键合单元按顺序在X方向上排列;以及控制单元,被配置为控制上述各单元的运动。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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