[发明专利]3D测量方法及系统在审
| 申请号： | 201610113222.3 | 申请日： | 2016-02-29 |
| 公开（公告）号： | CN105651173A | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 题晶;杜青琳 | 申请（专利权）人： | 题晶 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 孙向民;廉莉莉 |
| 地址： | 102208 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种3D测量方法及系统。该方法可以包括：对被测物体表面的被测图像数据进行去噪处理，获得被测图像数据的相位信息；基于参考图像数据，对被测图像数据的相位信息进行校正处理，获得经校正的相位信息；对经校正的相位信息进行相位解析，获得被测物体表面的3D数据；以及基于被测物体表面的3D数据，获得被测物体的表面信息，并对被测物体的表面信息进行分析。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
一种3D测量方法，包括：对被测物体表面的被测图像数据进行去噪处理，获得被测图像数据的相位信息；基于参考图像数据，对被测图像数据的相位信息进行校正处理，获得经校正的相位信息；对经校正的相位信息进行相位解析，获得被测物体表面的3D数据；以及基于被测物体表面的3D数据，获得被测物体的表面信息，并对被测物体的表面信息进行分析。
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