[发明专利]译码方法、存储器储存装置及存储器控制电路单元有效
申请号: | 201610114317.7 | 申请日: | 2016-03-01 |
公开(公告)号: | CN107146638B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 林纬 | 申请(专利权)人: | 群联电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C16/08 | 分类号: | G11C16/08;G11C16/34 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 马雯雯;臧建明 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种译码方法、存储器储存装置及存储器控制电路单元。此方法包括:程序化可复写式非易失性存储器模块的第一记忆胞;基于第一硬决策电压准位读取第一记忆胞以获得第一硬位信息并据以执行硬译码程序;若硬译码程序失败且第一记忆胞属于第一类记忆胞,基于第二硬决策电压准位读取第一记忆胞以获得第二硬位信息并据以执行硬译码程序;若硬译码程序失败且第一记忆胞属于第二类记忆胞,基于多个软决策电压准位读取第一记忆胞以获得软位信息并据以执行软译码程序。藉此,可在译码速度与译码成功率之间取得平衡。 | ||
搜索关键词: | 译码 方法 存储器 储存 装置 控制电路 单元 | ||
【主权项】:
一种译码方法,用于包括多个记忆胞的可复写式非易失性内存模块,其特征在于,所述译码方法包括:程序化所述多个记忆胞中的至少一第一记忆胞;基于第一硬决策电压准位读取所述至少一第一记忆胞以获得第一硬位信息;根据所述第一硬位信息执行硬译码程序并判断所述硬译码程序是否失败;若所述硬译码程序失败,判断所述至少一第一记忆胞属于第一类记忆胞或第二类记忆胞;若所述至少一第一记忆胞属于所述第一类记忆胞,基于第二硬决策电压准位读取所述至少一第一记忆胞以获得第二硬位信息并根据所述第二硬位信息执行所述硬译码程序,其中所述第二硬决策电压准位与所述第一硬决策电压准位不同,其中所述第一硬位信息所包含的第一硬位的总数等于所述第二硬位信息所包含的第二硬位的总数;以及若所述第一记忆胞属于所述第二类记忆胞,基于多个软决策电压准位读取所述至少一第一记忆胞以获得软位信息并根据所述软位信息执行软译码程序,其中所述第二硬位信息所包含的所述第二硬位的总数小于所述软位信息所包含的软位的总数。
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