[发明专利]传感器装置及其检查方法有效
| 申请号： | 201610115583.1 | 申请日： | 2016-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN105938178B | 公开（公告）日： | 2019-09-06 |
| 发明（设计）人： | 挽地友生 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供传感器装置及其检查方法，该传感器装置能够在不设置专用端子的情况下进行利用了自身发热的高温检查，抑制了测试焊盘追加所造成的芯片占有面积增大所带来的成本增加。传感器装置构成为具有切换输出驱动器的有源逻辑的有源逻辑切换电路，且将输出驱动器作为发热源而在检查步骤中切换输出驱动器的有源逻辑并且进行加热检查。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 装置 及其 检查 方法 | ||
【主权项】：
1.一种传感器装置，其由具有电源端子、接地端子及输出端子这3端子的半导体装置构成，且根据施加到传感器元件的物理量，切换输出驱动器的导通状态与截止状态，该传感器装置的特征在于，该传感器装置具有：传感器电路，其根据所述物理量的大小，输出2值的传感器输出逻辑信号；以及有源逻辑切换电路，其被输入所述传感器输出逻辑信号，对输出驱动器的导通状态与截止状态进行切换控制，所述有源逻辑切换电路根据在内部生成的有源逻辑切换信号，切换被输入的所述传感器输出逻辑信号的逻辑。
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