[发明专利]用于磁传感器校准的方法

摘要

一种方法包括从磁强计采集磁数据、处理该磁数据从而执行稳健的校准、并且使用校准状态指示符生成最优校准参数。为此，该方法包括根据自先前存储的磁数据中整个磁场的上次校准和变化以来经过的时间来生成校准状态指示符、检测异常、并且使用先前存储的磁数据与该磁数据之间的比较来提取稀疏磁数据集。根据该磁数据集，使用校准方法为该磁强计生成校准参数。这些校准参数基于对这些校准参数执行有效性和稳定性检查而被存储，并且与先前存储的校准参数一起被加权从而产生加权校准参数。如果产生了加权校准参数，则根据这些加权校准参数生成校准设置。

主权项

1.一种用于校准磁强计的方法，包括：/n从磁强计采集磁数据；并且/n在处理设备中执行以下步骤：/n根据自先前存储的磁数据中整个磁场的上次校准和变化以来经过的时间来生成校准状态指示符，所述校准状态指示符指示是否应当执行校准；/n检测所述磁数据的异常；/n只有在所述校准状态指示符指示应当执行校准的情形下才提取稀疏磁数据集，基于所述校准状态指示符、使用所述先前存储的磁数据与来自所述磁强计的所述磁数据之间的比较来执行所述提取；/n如果所述稀疏磁数据集被提取并且是足够的，则根据所述磁数据集，使用校准方法为所述磁强计生成校准参数；/n基于对所述校准参数执行有效性和稳定性检查，将所述校准参数存储在校准参数存储器中；/n如果所述校准参数存储在所述校准参数存储器中，则对所述校准参数和所述先前存储的校准参数加权从而产生加权校准参数；并且/n如果产生了所述加权校准参数，则根据所述加权校准参数生成用于所述磁强计的校准设置。/n