[发明专利]检测指示器有效
| 申请号： | 201610119040.7 | 申请日： | 2016-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN105865292B | 公开（公告）日： | 2019-12-10 |
| 发明（设计）人： | 寺内达志 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 11105 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种检测指示器，利用该检测指示器可容易地获得准确的测量值。检测指示器包括在其末端具有接触球的测量头，枢转地支撑测量头的壳体，以及检测测量头的旋转位移量的旋转编码器。检测指示器进一步包括根据测量对象表面和测量头之间的角度θ校正测量值的校正单元。校正单元包括存储测量对象表面与测量头之间的角度θ的角度存储器，根据角度θ计算校正系数的校正系数计算单元，以及将基于旋转编码器的检测值的接触球位移量乘以校正系数的校正运算单元。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 指示器 | ||
【主权项】：
1.一种检测指示器，包括：/n测量头，包括在其末端的接触球；/n壳体，配置为可枢转地支撑所述测量头；/n旋转编码器，配置为检测所述测量头的旋转位移量；/n显示单元，配置为基于旋转编码器的检测值显示测量值；/n校正单元，配置为接收角度θ并且基于所述角度θ的余弦确定校正系数，以及/n转换单元，配置为通过将所述旋转位移量转换为直线确定位移量，/n其中，所述校正单元还配置为将所述校正系数乘以所述位移量来根据测量对象表面和所述测量头之间的角度θ校正所述测量值。/n
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