[发明专利]便携式漏磁检测用试件有效

专利信息
申请号: 201610119290.0 申请日: 2016-03-02
公开(公告)号: CN105606698B 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 王兵;李伟忠;廖晓玲;吕彪;刘延雷;陈涛;钱艳玲 申请(专利权)人: 杭州市特种设备检测研究院
主分类号: G01N27/82 分类号: G01N27/82
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 代理人: 秦晓刚
地址: 310000 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种便携式漏磁检测用试件,包括一标定试块和若干标定标准柱,所述标定试块上设置有一个竖直的标定孔,所述标定标准柱用于填充在标定孔中,所述标定标准柱的外环面与标定孔孔壁紧密配合。本发明相对于现有技术中使用的标定装置,减小了标定装置的体积,方便了移动和携带,减少了人力物力的使用,降低了使用成本。
搜索关键词: 便携式 检测 用试件
【主权项】:
1.便携式漏磁检测用试件,其特征在于:包括一标定试块和若干标定标准柱,所述标定试块上设置有一个竖直的标定孔,所述标定标准柱用于填充在标定孔中,所述标定标准柱的外环面与标定孔孔壁紧密配合,所述标定孔为螺纹孔,所述标定标准柱上设有外螺纹,所述标定标准柱的轴向一端或者两端端面中心均设置有与扳手配合的旋合孔,标定标准柱在标定孔内的旋合深度可调节,以模拟检测面缺陷孔的不同情况,将标定标准柱旋入标定孔底部以模拟检测面的表面深度坑缺陷,将标定标准柱旋入标定孔顶部以模拟检测面的反面深度坑缺陷,将标定标准柱旋入标定孔中部以模拟检测面的表面及反面均存在深度坑缺陷的情况。
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