[发明专利]X射线探测方法以及装置以及系统有效
申请号: | 201610119861.0 | 申请日: | 2016-03-03 |
公开(公告)号: | CN105572154B | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
发明(设计)人: | 王红宝;徐玉辉;郭毅 | 申请(专利权)人: | 北京凌志阳光安全技术有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01B15/00 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王术兰 |
地址: | 100080 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及探测技术领域,具体而言,涉及一种X射线探测方法、装置以及系统。该方法,包括:获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。本发明所提供的方法通过获取同一个被探测物体拍摄角度不同的X射线照片,分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,结合X射线图像在拍摄时X射线源与成像面的相对位置,将目标的空间三维坐标计算出来,从而探测人员可以得知被探测物体中特定目标的大致形状以及位置。 | ||
搜索关键词: | 射线 探测 方法 以及 装置 系统 | ||
【主权项】:
1.一种X射线探测方法,其特征在于,包括:获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标;所述获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,具体包括:通过鼠标,沿着特定目标探测到的物体的轮廓或者阴影,画点或者画线,以确定所述目标;或者在目标圈定范围内,根据目标的视觉特征信息进行相似性运算,并根据目标在不同X射线图像中相似度大小,确定所述目标;在所述X射线图像中建立平面坐标系,确定所述目标在所述平面坐标系中的平面坐标。
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