[发明专利]定量X射线分析-多光路仪器有效
| 申请号： | 201610121520.7 | 申请日： | 2016-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN105938113B | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼;古斯塔夫·克里斯蒂安·布龙斯;亚历山大·科美尔科夫;布鲁诺·A·R·佛博斯;瓦尔瑟如斯·凡丹霍根霍夫;查拉兰波斯·扎尔卡达斯 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 胡秋玲;郑霞 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及定量X射线分析‑多光路仪器。装置包括X射线源(10)、用于X射线荧光(XRF)的波长色散X射线检测器和再次用于测量X射线荧光的能量色散X射线检测器(14)。相比较于使用两个检测器中的仅仅一个或相比较于测量具有波长色散检测器测量的低原子数元件和具有能量色散检测器的高原子数元件的简单方法，使用波长色散过程来测量选定元件减小整体测量时间。特别是基于能量色散检测器的结果，选择可动态地发生。 | ||
| 搜索关键词： | 定量 射线 分析 多光路 仪器 | ||
【主权项】：
一种定量X射线荧光、XRF、分析特定类型的样本以测量在相应的浓度范围中的多个元素的浓度的方法，所述方法包括：执行能量色散XRF、ED‑XRF以测量预定元素的选定第一子集的浓度；执行波长色散XRF、WD‑XRF以测量所述元素的选定第二子集的浓度；其中所述元素根据标准在所述第一子集和所述第二子集之间进行划分，以与使用所述能量色散XRF和所述波长色散XRF中的仅仅一个相比较，实现按给定准确度和/或精确度测量所有多个元素的减小的整体测量时间。
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