[发明专利]一种观察周期性极化铌酸锂晶体畴结构的方法有效

专利信息
申请号: 201610122081.1 申请日: 2016-03-03
公开(公告)号: CN105573011B 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 卢明辉;盛致远;韩旭;祝名伟;张善涛;刘晓平 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: G02F1/355 分类号: G02F1/355
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 李媛媛
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种观察周期性极化铌酸锂晶体畴结构的方法,目的在于简便观察铌酸锂晶体的畴结构。具体步骤为:(1)在铌酸锂晶体表面均匀涂布厚度500纳米‑10微米的S1805、SU‑8或AZ5214光刻胶,或LOR聚合物,获得铌酸锂‑聚合物双层结构的样品;(2)将步骤(1)所制备得到的样品在80‑200摄氏度下加热1分钟‑60分钟;然后直接置于显微镜下观察,能够获得良好表现的铌酸锂晶体畴结构的图像。本方法与其他传统方法相比,具有成本低、对铌酸锂晶体无破坏等特点。
搜索关键词: 铌酸锂晶体 畴结构 周期性极化铌酸锂晶体 观察 表面均匀涂布 聚合物双层 聚合物 光刻胶 铌酸锂 显微镜 制备 加热 图像 表现
【主权项】:
1.一种观察周期性极化铌酸锂晶体畴结构的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)在铌酸锂晶体表面均匀涂布厚度为500纳米‑10微米的聚合物,获得铌酸锂‑聚合物双层结构的样品,所述的聚合物为S1805、SU‑8或AZ5214光刻胶;(2)将步骤(1)所制备得到的样品在80‑200摄氏度下加热1分钟‑60分钟;然后直接置于显微镜下观察,能够获得良好表现的铌酸锂晶体畴结构的图像。
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