[发明专利]集成电路与其相关的方法有效
申请号: | 201610124505.8 | 申请日: | 2016-03-04 |
公开(公告)号: | CN106158016B | 公开(公告)日: | 2019-01-29 |
发明(设计)人: | 林昱佑;李峰旻 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C13/00 | 分类号: | G11C13/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提出一种集成电路,包含彼此耦接的可编程控制元件与电路。电路用于对可程序元件执行编程‑验证(program‑verify)操作,包含:(i)编程操作与验证操作的初始周期,以及(ii)在初始周期后,于可编程控制元件的存储单元电阻值不在电阻值的目标范围内时,重复进行接续在验证操作后的至少一后续周期。初始编程操作建立可编程控制元件的存储单元电阻值(cell resistance)。初始编程操作包含将具有第一极性的初始编程脉冲施加至可编程控制元件。其中后续周期包含:将具有第二极性的附加脉冲施加至该可编程控制元件。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 与其 相关 方法 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路,其特征在于,包含:一可编程控制元件,包含金属氧化物;以及一电路,耦接至该可编程控制元件,该电路用于执行一编程‑验证操作,该编程‑验证操作包含:(i)一编程操作与一验证操作的一初始周期,包含:进行一初始编程操作,用于建立该可编程控制元件的一存储单元电阻值,该初始编程操作包含将具有一第一极性的一初始编程脉冲施加至该可编程控制元件;以及进行一初始验证操作,用于判断该可编程控制元件的该存储单元电阻值是否介于一电阻值的目标范围内;以及(ii)在该初始周期后,于该可编程控制元件的该存储单元电阻值不在该电阻值的目标范围内时,重复进行接续在该初始验证操作后的至少一后续周期,直到该可编程控制元件的该存储单元电阻值介于该电阻值的目标范围内,其中该至少一后续周期包含:将具有一第二极性的一附加脉冲施加至该可编程控制元件,该初始编程脉冲的该第一极性以及该附加脉冲的该第二极性彼此反向;进行一后续编程操作,包含将具有该第一极性的一后续编程脉冲施加至该可编程控制元件;以及进行一后续验证操作,用于判断该可编程控制元件的该存储单元电阻值是否介于该电阻值的目标范围内。
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