[发明专利]一种基于DM分解的测点优选方法有效

专利信息
申请号: 201610127718.6 申请日: 2016-03-07
公开(公告)号: CN105808842B 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 赵琦;杨天社;冯文全;谭旭;周淦;赵洪博;张文峰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于DM分解的测点优选方法,其步骤如下:一、对目标系统建模,获得系统状态方程组;二、将系统状态方程组转化为二分图,中顶点对应状态方程和状态变量,二分图中边对应状态方程含有状态变量;三、求解实现系统故障可探测性的传感器集合;四、求解实现系统故障可隔离性的传感器集合;通过以上步骤,能够解决和实现在带诊断系统中安置最少的传感器最大化该系统故障诊断能力的问题,它能够用流程化方式解决故障诊断中传感器设置的问题,并通过将系统分解为较小子系统的方式,降低算法复杂度,更快求解问题。
搜索关键词: 一种 基于 dm 分解 优选 方法
【主权项】:
1.一种基于DM分解的测点优选方法,其特征在于:其步骤如下:步骤一、对目标系统建模,获得系统状态方程组;步骤二、将系统状态方程组转化为二分图,中顶点对应状态方程和状态变量,二分图中边对应状态方程含有状态变量;步骤三、求解实现系统故障可探测性的传感器集合;3.1.对二分图进行DM分解,得到强连通分量以及其中的偏序关系;3.2.根据偏序关系求解可探测故障fi的传感器集合D[fi],i=1...n,系统中共有n个故障;3.3.求集合D[f1],D[f2]...,D[fn]的碰集,为系统故障可探测性求解结果;步骤四、求解实现系统故障可隔离性的传感器集合;4.1.根据强连通分量和其间的偏序关系构建子系统;4.2.对于每个子系统计算实现故障隔离性的传感器集合I[Mi];4.3.整合I[M1],I[M2],...,I[Mk],子系统数目为k个;为系统故障可隔离性求解结果;在步骤四中所述的根据强连通分量和其间的偏序关系构建子系统,其做法如下:根据DM分解的结果对系统进行分割建立子系统,对于任一强连通分量Vi构建一个子系统,如果有偏序关系Vi<Vj,则将Vj转化为其中的一个公式;该公式是否有故障视Vj中是否有故障而定,如果有偏序关系Vj<Vi,则将Vj转化为其中的一个不带有故障的公式。
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