[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 201610128529.0 | 申请日: | 2016-03-07 |
公开(公告)号: | CN105952566A | 公开(公告)日: | 2016-09-21 |
发明(设计)人: | 宫泽繁美 | 申请(专利权)人: | 富士电机株式会社 |
主分类号: | F02P3/055 | 分类号: | F02P3/055 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 万捷 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明防止火花塞在自切断时误点火。在自切断信号源(211)检测到正常且晶体管(M3)导通时,若IN端子接收到导通信号,则晶体管(M1)导通,晶体管(M2)截止,IGBT(24)导通。此时,若自切断信号源(211)检测到异常,晶体管(M1)截止,晶体管(M2)导通,则通过使IGBT(24)的栅极端子经由晶体管(M2、M3)与发射极端子相连,从而将充入栅极电容的电荷急速放电。由此,若比较器216检测到IGBT(24)的集电极电压上升并高于规定的电压,则晶体管(M3)被截止,进行缓切断,即利用电阻(213)缓慢地将栅极电容的电荷进行放电。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,对功率半导体元件进行开关控制,其特征在于,包括:栅极上拉电路,该栅极上拉电路与所述功率半导体元件的栅极端子相连,并基于输入信号对所述栅极端子进行上拉;栅极下拉电路,该栅极下拉电路与所述功率半导体元件的栅极端子相连,并基于输入信号对所述栅极端子进行下拉;异常检测电路,该异常检测电路对所述功率半导体元件的通电状态的异常进行检测;微电流电路,该微电流电路与所述功率半导体元件的栅极端子相连,并从所述功率半导体元件的栅极电容引出电荷;电压检测电路,该电压检测电路与所述功率半导体元件的集电极端子相连来检测集电极电压;以及开关电路,该开关电路连接在所述栅极下拉电路与所述功率半导体元件的发射极端子之间,在所述异常检测电路检测到异常时,切断所述栅极上拉电路,使所述栅极下拉电路导通,经由所述开关电路从所述功率半导体元件的栅极电容引出电荷,若由所述电压检测电路检测到因所述电荷的引出引起的集电极电压的上升超过了设定值,则切断所述开关电路,利用所述微电流电路引出电荷。
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