[发明专利]基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法

摘要

本发明公开了一种基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法，包括：在DUT建OAM会话，测试unExpDefect时控制Testcenter配置脚本；测试unExpDefect时，DUT监控unExpDefect产生和消除；测试unExpDefect结束，Testcenter自动化脚本分析capture报文；在DUT建OAM会话，测试dLoc时控制Testcenter配置脚本；测试dLoc时，DUT内部脚本监控dLoc产生和消除。本发明实现了降频验证用Testcenter OAM协议栈互动测试，实现Testcenter收发包和DUT会话配置，完整复现测试出现问题，降频时OAM告警测试误差精度达0.1％。

主权项

1.基于PTN芯片降频实现OAM自动化验证的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、在被测器件DUT建立一个OAM会话，测试unExpDefect告警产生和消除时控制Testcenter仪表配置脚本逻辑；S2、测试unExpDefect告警时，DUT内部脚本监控unExpDefect告警产生和消除的逻辑；S3、在测试unExpDefect告警产生和消除结束后，启动Testcenter自动化脚本分析capture的OAM报文；S4、在DUT建立一个OAM会话，测试dLoc告警产生和消除时控制Testcenter仪表配置脚本逻辑；S5、测试dLoc告警时，DUT内部脚本监控dLoc告警产生和消除的逻辑；S1具体包括以下步骤：S11、Testcenter仪表建立与OAM会话配对的OAM_Right流以及配置OAM_Right流的发送周期为3.33s，同时配置一个在DUT内部产生unExpDefect告警的OAM_Defect流以及配置OAM_Defect流的发送周期为3.33s；S12、在Testcenter仪表上配置调度模式，调度模式为先发送4帧OAM_Right流然后再发送1帧OAM_Defect流，其中OAM_Right流与OAM_Defect流之间的帧间隔为3.33s；S13、启动capture功能，将capture的OAM报文保存在指定文件中；S2具体包括以下步骤：S21、启动DUT内部脚本检查；S22、每隔1ms读取一次unExpDefect告警对应的计数器值unExpDefectcnt是否等于14，若是，转S23；否则，转S22；S23、记录下此时的第一时间戳，转S24；S24、每隔1ms读取一次计数器值unExpDefectcnt是否等于0，若是，转S25；否则，转S24；S25、记录下此时的第二时间戳，转S26；S26、记录第二时间戳与第一时间戳的差值结果，该差值结果为unExpDefect告警消除所耗用的实际时间，将该差值结果输出到测试结果文件中，转S22；S3具体包括以下步骤：S31、启动Testcenter自动化脚本；S32、连续检测每一帧的OAM报文，当检测到OAM报文中携带RDI＝1的信息时，记录此帧的第一接收时间戳；当接着检测到OAM报文中携带RDI＝0的信息时，记录此帧的第二接收时间戳；S33、记录第二接收时间戳与第一接收时间戳的差值结果，该差值结果为unExpDefect告警消除所耗用的实际时间，将该差值结果输出到测试结果文件中，直到将所有capture的OAM报文分析结束；S4具体包括以下步骤：S41、Testcenter仪表建立与OAM会话配对的OAM_Right流，并配置OAM_Right流的发送周期为3.33s，同时建立一个空闲等待13s的配置；S42、在Testcenter仪表上配置调度模式，调度模式为先发送1帧OAM_Right流然后再启动空闲等待13s的配置；S43、启动capture功能，将capture的OAM报文保存在指定文件中；S5具体包括以下步骤：S51、启动DUT内部脚本检查；S52、每隔1ms读取一次dLoc告警对应的计数器值dLoc Defectcnt是否等于14，若是，转S53；否则，转S52；S53、记录下此时的第三时间戳，转S54；S54、每隔1ms读取一次计数器值dLoc Defectcnt是否等于0，若是，转S55；否则，转S54；S55、记录下此时的第四时间戳，转S56；S56、记录第四时间戳与第三时间戳的差值结果，该差值结果为dLoc告警产生所耗用的实际时间，将该差值结果输出到测试结果文件中，转S52；其中：unExpDefect告警为OAM帧中某些域段不匹配导致告警，包括unexpMEL、unexpMEG、unexpMEP、unexpPeriod和unexpPriority告警；dLoc告警为持续性丢失告警，是由一段时间内没有接收到报文导致的告警。