[发明专利]一种BeZnOS化合物半导体材料、其制备方法及应用在审
申请号: | 201610130050.0 | 申请日: | 2016-03-08 |
公开(公告)号: | CN105734491A | 公开(公告)日: | 2016-07-06 |
发明(设计)人: | 何云斌;张武忠;黎明锴;程海玲;唐志武 | 申请(专利权)人: | 湖北大学 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/28 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
地址: | 430062 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于半导体光电材料技术领域,具体涉及一种BeZnOS化合物半导体材料、其制备方法及应用。本发明所提供的BeZnOS材料为BeO和Zn S以一定比例固溶得到的四元化合物半导体材料,通过Be和S复合取代的协同作用,不但能实现对ZnO带隙的更自由调控,还起到增加取代元素Be、S在ZnO中的溶解度和消除固溶体带隙与晶格常数调节相互牵制的效果。该BeZnOS四元化合物是带隙自由可调的宽禁带半导体,可用于紫外至日盲区发光器件或光探测器件。本发明所提供的BeZnOS化合物半导体材料可采用脉冲激光沉积、磁控溅射、电子束蒸发等多种方法进行生长,设备和操作工艺简单。本发明所提供的BeZnOS单晶薄膜材料为世界上首次成功合成,对于开发波长可调的ZnO基光电器件具有非常重要的意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 beznos 化合物 半导体材料 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
一种BeZnOS化合物半导体材料的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1)制备BeZnOS化合物半导体薄膜材料所需的陶瓷靶材,所述的陶瓷靶材由陶瓷坯片烧结得到,其中,所述的陶瓷坯片包括摩尔比为99:1~70:30的ZnS和BeO,所述陶瓷坯片的烧结温度为700~1250℃,烧结时间为4~6个小时;2)以蓝宝石为衬底,对所述陶瓷靶材采用脉冲激光烧蚀沉积方法在所述衬底上进行BeZnOS薄膜的生长,得到BeZnOS化合物半导体材料,其中,衬底温度为25~1000℃,激光能量为250~600mJ/pulse,氧压为0~10Pa。
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