[发明专利]一种同构数据集特征质量可视化方法在审

专利信息
申请号: 201610130665.3 申请日: 2016-03-08
公开(公告)号: CN106227724A 公开(公告)日: 2016-12-14
发明(设计)人: 汤奇峰;薛守辉 申请(专利权)人: 上海晶赞科技发展有限公司
主分类号: G06F17/30 分类号: G06F17/30;G06N99/00;G06Q30/02
代理公司: 上海翰信知识产权代理事务所(普通合伙)31270 代理人: 张维东
地址: 200072 上海市闸*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种同构数据集特征质量可视化方法,通过对同构的数据集特征及标签的样本分布进行统计,对特征集合内的任意特征,计算该特征的每个类别值其正样本发生率、规范化发生率、漂移度、综合发生率,最后以漂移度为半径、综合发生率为偏角,将该特征的类别值集合映射称极坐标系中的点集,进而特征质量图。这种特征质量可视化方法能有效应用于有监督学习中典型的四个特征工程问题:特征评估、特征归因、特征选择和特征改进。本发明使得有监督机器学习模型面对同构数据集但数据分布有趋势性漂移时,能够克服训练集和测试集分布差异问题,进而可以进行有效的特征评估、特征归因和特征选择,甚至通过改善特征以提升模型效果。
搜索关键词: 一种 同构 数据 特征 质量 可视化 方法
【主权项】:
一种同构数据集特征质量可视化方法,其特征在于,至少包括以下步骤:步骤1,给定二分类有标签同构数据集,给定某特征f,构建特征的类别值集合V={v1,v2,…,vN},将同构数据集按时间分成K个子集,记为D={d1,d2,。。。dK};步骤2,对同构数据集D中的每个数据子集d,计算其整体正样本发生率r(d),计算公式为r(d)=pos(d)/ins(d),其中pos(d)、ins(d)分别表示数据子集d中正样本数和样本总数;步骤3,对同构数据集D中的每个数据子集d,对类别值集合V中的每个类别值v,计算其正样本发生率r(v,d),计算公式为r(v,d)=pos(v,d)/ins(v,d),其中pos(v,d)、ins(v,d)分别为数据子集d中包含类别值v的正样本数和样本总数;步骤4,对同构数据集D中的每个数据子集d,对类别值集合V中每个类别值v,计算其的规范化发生率sr(v,d),计算公式为:sr(v,d)=r(v,d)/r(d);步骤5,对类别值集合V中每个类别值v,计算其综合发生率t(v)、漂移率s(v),计算公式为:t(v)=mean_over_d(sr(v,d)),即对K个规范化发生率求均值;s(v)=std_over_d(sr(v,d))+1,即对K个规范化发生率求标准差并加1;步骤6,对类别值集合V中每个类别值v,以综合发生率t(v)为偏角、以漂移度t(v)为半径,将特征类别值绘制于极坐标系中,即极坐标p(v)=(t(v),s(v));步骤7,在极坐标系中构造辅助圆,辅助圆半径为1,圆心为原点,构成特征f在同构数据集D上的特征质量图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海晶赞科技发展有限公司,未经上海晶赞科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610130665.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top