[发明专利]一种发光二极管的外延结构及外延生长方法在审

专利信息
申请号: 201610131274.3 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN105679892A 公开(公告)日: 2016-06-15
发明(设计)人: 肖云飞 申请(专利权)人: 华灿光电(苏州)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/06;H01L33/12;H01L33/32
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 215600 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种发光二极管的外延结构及外延生长方法,属于半导体技术领域。所述外延结构包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在所述蓝宝石衬底上的GaN缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、浅阱层、多量子阱层、低温P型GaN层、P型AlGaN电子阻挡层、高温P型GaN层、P型GaN接触层,所述外延结构还包括层叠在所述蓝宝石衬底和所述GaN缓冲层之间的AlxGa1-xN缓冲层,0.3≤x≤0.8。本发明通过在主要成分为Al2O3的蓝宝石衬底和GaN缓冲层之间设置AlxGa1-xN缓冲层,可以有效减缓因Al2O3和GaN之间晶格失配产生的缺陷和位错,减少发光二极管的漏电通道,提高发光二极管的抗静电能力。
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 结构 生长 方法
【主权项】:
一种发光二极管的外延结构,所述外延结构包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在所述蓝宝石衬底上的GaN缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、浅阱层、多量子阱层、低温P型GaN层、P型AlGaN电子阻挡层、高温P型GaN层、P型GaN接触层,其特征在于,所述外延结构还包括层叠在所述蓝宝石衬底和所述GaN缓冲层之间的AlxGa1‑xN缓冲层,0.3≤x≤0.8。
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