[发明专利]一种高精度ADC测量的自动测试设备有效

专利信息
申请号: 201610131694.1 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN105811981B 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 严凌志;黎冰;涂柏生 申请(专利权)人: 深圳市博巨兴实业发展有限公司
主分类号: H03M1/10 分类号: H03M1/10
代理公司: 深圳力拓知识产权代理有限公司 44313 代理人: 龚健
地址: 518000 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种高精度ADC测量的自动测试平台,包括PC机、电源适配器、高精度ADC模拟性能综合测试仪、分路器和多路插座/评估板连接器。本发明旨在提供一套高精度ADC测量的自动测试平台,为了减少手动测试上操作带来的不便,设计一款可以自动测试的ADC测试系统板,采用高精度DAC作为信号源取代传感器和电位差计作为信号源的输入,测试ADC的主要性能参数,如失调误差、增益误差、非线性、工作电压抑制比和共模输入抑制比等。采用了差分输入方式,并且支持多级PGA放大,输入共模信号可调,并且被测器件电源数字可调。只要通过USB连上上位机软件便可以实现自动化测试。
搜索关键词: 一种 高精度 adc 测量 自动 测试 平台
【主权项】:
1.一种高精度ADC测量的自动测试设备,包括PC机、电源适配器、高精度ADC模拟性能综合测试仪、分路器和多路插座/评估板连接器,其特征在于,所述高精度ADC模拟性能综合测试仪分别连接分路器、PC机、电源适配器和单片测试插座/评估板,所述分路器上还连接多个多路插座/评估板连接器,所述多路插座/评估板连接器还连接多个插座/评估板;高精度ADC模拟性能综合测试仪包括数字可调基准模块、电源系统、参考基准模块、20位高精度DAC、单端转差分电路、共模点控制电路、增益选择电路、被测器件数字接口、存储器、USB接口电路和被测器件模拟接口,微控制器分别连接数字可调基准模块、电源系统、20位高精度DAC、共模点控制电路、增益选择电路、被测器件数字接口、存储器、USB接口电路,所述增益选测电路还分别连接共模点控制电路和被测器件模拟接,电源系统还分别连接数字可调基准模块和参考基准模块,20位高精度DAC还连接单端转差分电路,单端转差分电路还连接共模点控制电路,电源系统包含被测器件的可调数字电源和模拟电源,以及主控电源和各模块电源,数字可调基准用于被测器件ADC参考、高精度ADC测试设备差分模拟信号的共模电压和系统上的20位高精度DAC参考,20位高精度DAC为系统提供高精度高分辨率的信号,增益选择电路是对应PGA放大电路,将信号分压缩小,缩小倍数对应PGA放大倍数,USB接口电路用于实现微控器与上位机软件的通讯,存储器用于保存测试设备脱机时的测试数据和测试参数设置,微控制器用于控制各个模块工作,按照设置完成被测器件的测试激励控制和测试数据采集,精密分压器和精密多路器组成增益选择电路,AVDD和DVDD是被测器件的电源,1.2V~6.2V可调,用于电源抑制比测试;Vref_R为数字可调基准,用作高精度ADC测试的参考和输入共模抑制比测试;Vou+和Vou‑为20位高精度差分信号,用于高精度ADC测试的信号输入。
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