[发明专利]一种基于脉冲气流法生长层状二硫化钼薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201610133290.6 申请日: 2016-03-09
公开(公告)号: CN105734528A 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 林本慧 申请(专利权)人: 无锡盈芯半导体科技有限公司
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/455
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214177 江苏省无锡市惠山经济*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于脉冲气流法生长层状二硫化钼薄膜的方法,包括如下步骤:1)将衬底置于PEMOCVD反应室中,通入氩气去除反应室中的空气,调节反应室真空度为10‑3Pa以下,温度为700℃~800℃,升温速率为40~60℃/min;2)以氩气为载体,将氧化钼粉末和硫粉末分别加热蒸发为反应源气体,脉冲式通入到PEMOCVD反应室中在衬底上成核成长,通过控制反应源气体的输入流量以及脉冲输入方式,获得特定层数的二硫化钼薄膜。本发明通过反应源气体的输入流量以及脉冲输入方式,可获得高质量和层数可控的大尺寸二硫化钼薄膜。
搜索关键词: 一种 基于 脉冲 气流 生长 层状 二硫化钼 薄膜 方法
【主权项】:
一种基于脉冲气流法生长层状二硫化钼薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:1)将衬底置于PEMOCVD反应室中,通入氩气去除反应室中的空气,调节反应室真空度为10‑3Pa以下,温度为700℃~800℃,升温速率为40~60℃/min;2)以氩气为载体,将氧化钼粉末和硫粉末分别加热蒸发为反应源气体,脉冲式通入到PEMOCVD反应室中在衬底上成核成长,通过控制反应源气体的输入流量以及脉冲输入方式,获得特定层数的二硫化钼薄膜。
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