[发明专利]ITO导电玻璃检测方法与检测装置在审
| 申请号： | 201610135623.9 | 申请日： | 2016-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN107014830A | 公开（公告）日： | 2017-08-04 |
| 发明（设计）人： | 梁鸿 | 申请（专利权）人： | 上海开皇软件科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙)31287 | 代理人： | 于晓菁 |
| 地址： | 201206 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种ITO导电玻璃检测方法与检测装置，所述检测方法包括对ITO导电玻璃的待检测表面进行连续拍摄，获得能够覆盖所述待检测表面全部图形区域的所有目标图像；对拍摄获得的各个目标图像进行预处理；对各个经过预处理的目标图像进行断点检测，所述断点检测包括检测预处理后的目标图像上的每个像素点，判断各像素点是否处于直线的断点上，所述断点为一条直线上像素点亮度出现突变而导致不连续的像素区域；从通过所述断点检测后所有被判断为断点的区域中，排除属于正常断点的区域，并将其余断点的区域确定为划伤区域。本发明技术方案能简单、高效、准确地检测出ITO导电玻璃待检测表面的导电线路细微划伤情况以及短路情况。 | ||
| 搜索关键词： | ito 导电 玻璃 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种ITO导电玻璃检测方法，其特征在于，包括：对ITO导电玻璃的待检测表面进行连续拍摄，获得能够覆盖所述待检测表面全部图形区域的所有目标图像；对拍摄获得的各个目标图像进行预处理；对各个经过预处理的目标图像进行断点检测，所述断点检测包括：检测预处理后的目标图像上的每个像素点，判断各像素点是否处于直线的断点上，所述断点为一条直线上像素点亮度出现突变而导致不连续的像素区域；从通过所述断点检测后所有被判断为断点的区域中，排除属于正常断点的区域，并将其余断点的区域确定为划伤区域。
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