[发明专利]印刷电路板及其测试方法以及制造半导体封装的方法在审
申请号: | 201610136306.9 | 申请日: | 2016-03-10 |
公开(公告)号: | CN106206338A | 公开(公告)日: | 2016-12-07 |
发明(设计)人: | 李其勇;金宗铉;崔炯柱 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/66;H05K1/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;刘久亮 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 印刷电路板及其测试方法以及制造半导体封装的方法。提供了一种制造半导体封装的方法。该方法包括以下步骤:设置条状基板,该条状基板具有由外围区域彼此分隔开并且具有盲通孔的多个单元基板区域、设置在外围区域上的外围导电图案层、以及将盲通孔电连接到外围导电图案层的连接图案层。在所述多个单元基板区域上分别设置有半导体芯片。导线被形成以将设置在所述多个单元基板区域上的连接焊盘电连接到设置在半导体芯片上的接合焊盘。连接焊盘电连接到盲通孔,并且形成导线的操作包括以下步骤:执行用于确定在每根导线和外围导电图案层之间流经所述单元基板区域的电流的测试。 | ||
搜索关键词: | 印刷 电路板 及其 测试 方法 以及 制造 半导体 封装 | ||
【主权项】:
一种制造半导体封装的方法,该方法包括以下步骤:设置条状基板,所述条状基板具有多个单元基板区域、外围导电图案层和连接图案层,所述多个单元基板区域由外围区域彼此分隔开并且具有盲通孔,所述外围导电图案层设置在所述外围区域中,并且所述连接图案层将所述盲通孔电连接到所述外围导电图案层;在所述多个单元基板区域上安装半导体芯片;以及形成导线,所述导线将设置在所述多个单元基板区域上的连接焊盘电连接到设置在所述半导体芯片上的接合焊盘,其中,所述连接焊盘电连接到所述盲通孔,并且其中,形成所述导线的步骤包括以下步骤:执行用于确定在每根导线和所述外围导电图案层之间流经所述单元基板区域的电流的测试。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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