[发明专利]用于ECC保护存储器的MBIST设备有效

专利信息
申请号: 201610137462.7 申请日: 2016-03-11
公开(公告)号: CN105976870B 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: E·C·琼斯;A·J·阿兰 申请(专利权)人: 美国亚德诺半导体公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 刘倜
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开实施MBIST设备的系统。该系统包括ECC保护存储器和用于存储器的自检的MBIST设备。MBIST设备包括经由第一路径通信地连接到所述存储器的第一访问端口,第一路径不含与嵌入式存储器相关联的ECC逻辑,并经由第二路径通信地连接到所述存储器的第二访问端口,所述第二路径包括与存储器相关联的ECC逻辑。该设备被配置为在操作的第一模式经由所述第一路径以及在第二操作模式中经由所述第二路径测试存储器。这种系统的一个优点包括重复使用,MBIST逻辑很少的额外裸片面积,已经需要对可由系统的产品制造测试(操作的第一模式)或客户执行的系统应用级测试(操作的第二模式)。
搜索关键词: 用于 ecc 保护 存储器 mbist 设备
【主权项】:
1.一种系统,包括:存储器;与存储器相关联的纠错码(ECC)逻辑,被配置为通过施加一个或多个ECC算法纠正或检测读和/或写数据到存储器中的错误;和用于存储器的存储器自测试(MBIST)的设备,该设备包括:经由第一路径通信地连接到所述存储器的第一接入端口,第一路径不包括与所述存储器相关联的ECC逻辑,以及经由第二路径通信地连接到所述存储器的第二接入端口,所述第二路径包括与所述存储器关联的ECC逻辑,其中,所述设备被配置为:在该设备的操作的第一模式,经由所述第一路径测试存储器,和在该设备的操作的第二模式,经由所述第二路径测试存储器。
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