[发明专利]粒子测量装置在审
| 申请号： | 201610140671.7 | 申请日： | 2016-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN106323823A | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 武田直希;小泉和裕;浅野贵正;长谷川祥树 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/06 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能够通过更简便的装置结构来探测在粒子的测量中使用的谐振激光的振荡模式及其变化的粒子测量装置。该粒子测量装置具备：光谐振器，其使激光在两个相向的反射镜之间往复，来形成使该激光的能量放大而得到的谐振激光；粒子输送单元，其以使作为测定对象的气溶胶的粒子横穿所述谐振激光的光路的方式输送该粒子；散射光接收单元，其接收在所述气溶胶的粒子被所述谐振激光照射时产生的散射光；以及处理装置，其接收由所述散射光接收单元接收光而得到的受光信号，其中，所述处理装置构成为：基于所述受光信号来输出受光脉冲，导出所述受光脉冲中的在时间上相邻的受光脉冲的脉冲间时宽。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种粒子测量装置，其特征在于，具备：光谐振器，其使激光在两个相向的反射镜之间往复，来形成使该激光的能量放大而得到的谐振激光；粒子输送单元，其以使作为测定对象的气溶胶的粒子横穿所述谐振激光的光路的方式输送该粒子；散射光接收单元，其接收在所述气溶胶的粒子被所述谐振激光照射时产生的散射光；以及处理装置，其接收由所述散射光接收单元接收光而得到的受光信号，其中，所述处理装置构成为：基于所述受光信号来输出受光脉冲，导出所述受光脉冲中的在时间上相邻的受光脉冲的脉冲间时宽。
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