[发明专利]一种基于经纬线的研磨加工轨迹均匀性检测方法有效
| 申请号： | 201610141859.3 | 申请日： | 2016-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN105798773B | 公开（公告）日： | 2017-11-07 |
| 发明（设计）人： | 文东辉;陈珍珍;鲁聪达;蔡东海;王扬渝 | 申请（专利权）人： | 浙江工业大学 |
| 主分类号： | B24B49/00 | 分类号： | B24B49/00 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙)33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 310014 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于经纬线的研磨加工轨迹均匀性检测方法，首先在圆形基片上建立经纬线模型，其中包括经线(1、2、…、i、…、n)和纬线(1、2、…、j、…、m)；依次计算研磨加工轨迹线通过经线1、经线2…、经线i、…、经线n的次数；分别计算经线1上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数、经线2上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数、经线i上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数(1≤j≤m)，以此类推，直至得到经线n上经线i上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数。本发明只需合理设计一定数量的经线和纬线，便可逐一辨识出研磨加工轨迹线的密度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 经纬线 研磨 加工 轨迹 均匀 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于经纬线的研磨加工轨迹均匀性检测方法，其特征在于：包括如下步骤：1)、首先在圆形基片上建立经纬线模型，其中包括经线(1、2、…、i、…、n)和纬线(1、2、…、j、…、m)；2)、依次计算研磨加工轨迹线通过经线1、经线2…、经线i、…、经线n的次数；3)、分别计算经线1上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数、经线2上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数、经线i上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数(1≤j≤m)，以此类推，直至得到经线n上研磨加工轨迹通过纬线(j‑1)和纬线j之间的次数；4)依次取j的不同值，得到不同经纬段上局部线段区间上的研磨加工轨迹的分布密度，根据上述分布密度得出研磨加工轨迹均匀性。
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