[发明专利]一种带漂移干扰的模型预测控制器的建模质量监控方法有效
| 申请号： | 201610144819.4 | 申请日： | 2016-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN105700358B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 郑英;刘磊;张洪;王彦伟 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G05B13/04 | 分类号： | G05B13/04 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种带漂移干扰的模型预测控制器的建模质量监控方法,包括如下步骤：建立闭环控制系统的干扰模型；根据闭环控制系统的实际情况以及给定的控制目标，设计过程的动态模型MPC控制器；采用干扰模型及MPC控制器控制闭环控制系统，并采集闭环控制系统运行所得的过程数据；根据闭环控制系统结构，对过程输出及过程输入数据进行正交投影，获得过程估计干扰更新；根据闭环控制系统既定参考信号和过程实际输出，获取闭环控制系统的实际跟踪误差；根据所述过程估计干扰更新与所述实际跟踪误差，获得闭环控制系统的模型质量指标；根据闭环控制系统结构，利用所述模型质量指标对建模质量进行监控；具有可行性高，处理消耗资源少，评价结果准确度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 闭环控制系统 建模 模型预测控制器 漂移 质量指标 跟踪误差 质量监控 过程输入数据 动态模型 过程输出 过程数据 控制目标 设计过程 实际输出 正交投影 准确度 更新 采集 消耗 监控 | ||
【主权项】：
一种带漂移干扰的模型预测控制器的建模质量监控方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)建立闭环控制系统的干扰模型；(2)根据闭环控制系统参数以及给定的控制目标，获取过程的MPC控制器；(3)当闭环控制系统在所述干扰模型及MPC控制器的控制下运行时，采集闭环控制系统运行所得的过程数据；所述过程数据包括闭环控制系统的过程输出和过程输入；(4)根据闭环控制系统结构，对所述过程输出及过程输入数据进行正交投影，获得过程估计干扰更新；(5)根据闭环控制系统既定参考信号和过程实际输出，获取闭环控制系统的实际跟踪误差；(6)根据所述过程估计干扰更新与所述实际跟踪误差，获得闭环控制系统的模型质量指标；(7)根据闭环控制系统结构，利用所述模型质量指标对建模质量进行监控。
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