[发明专利]接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法在审
| 申请号： | 201610145052.7 | 申请日： | 2016-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN105823958A | 公开（公告）日： | 2016-08-03 |
| 发明（设计）人： | 魏燕;徐智强 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/04 | 分类号： | G01R31/04;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种接触测试装置、液晶盒测试设备及液晶盒测试方法，接触测试装置，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，所述接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置；所述接触检测装置的检测端与所述探测装置的探测端平齐，当所述探测装置的探测端与所述待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。本发明提供的接触测试装置能够根据提示信号获知探测装置和待测区域是否接触良好，从而避免了因探测装置与待测区域接触不良导致的对显示面板品质造成误判情况的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 测试 装置 液晶 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种接触测试装置，其特征在于，用于对探测装置与待测区域是否接触进行测试，所述接触测试装置包括接触检测装置、信号提示装置和电源装置；所述接触检测装置的检测端与所述探测装置的探测端平齐，当所述探测装置的探测端与所述待测区域接触时，所述探测装置、所述接触检测装置、所述待测区域、所述信号提示装置和所述电源装置形成闭合回路，以使所述信号指示装置发出接触成功的提示信号。
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