[发明专利]一种采用超声脉冲反射水浸测量TC4激光快速成形与锻造TC4超声衰减差异方法在审

专利信息
申请号: 201610145153.4 申请日: 2016-03-15
公开(公告)号: CN105806952A 公开(公告)日: 2016-07-27
发明(设计)人: 邬冠华;李泽;吴伟;王婵;周笔文 申请(专利权)人: 南昌航空大学;西安航空动力股份有限公司
主分类号: G01N29/11 分类号: G01N29/11
代理公司: 南昌洪达专利事务所 36111 代理人: 刘凌峰
地址: 330063 江*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明公开了一种采用超声脉冲反射水浸测量TC4激光快速成形与锻造TC4超声衰减差异方法,用来指导激光快速成形件超声检测工艺和标准制订,其特征在于:借助等尺寸相同尤其是厚度相同圆形试块,超声入射和反射面的表面粗糙度优于2µm,采用超声脉冲发射和接收仪器,500MHz数据采样卡,采集三次以上超声脉冲回波高度,利用公式α=[20lg(Bm/Bn)‑ҕ]/[2(n‑m)x]计算超声纵波衰减系数。本发明所述接收仪器采用奥林巴斯5077超声发射接收仪器,采用数字示波器采样并存储采样波形,采样频率不低于500MHz,垂直线性和水平线性满足GJB1580A要求。
搜索关键词: 一种 采用 超声 脉冲 反射 测量 tc4 激光 快速 成形 锻造 衰减 差异 方法
【主权项】:
一种采用超声脉冲反射水浸测量TC4激光快速成形与锻造TC4超声衰减差异方法,用来指导激光快速成形件超声检测工艺和标准制订,其特征在于:借助等尺寸相同尤其是厚度相同圆形试块,超声入射和反射面的表面粗糙度优于2µm,采用超声脉冲发射和接收仪器,500MHz数据采样卡,采集三次以上超声脉冲回波高度,利用公式α=[20lg(Bm/Bn)‑ ҕ]/[2(n‑m)x]计算超声纵波衰减系数Bm Bn——第m,n次底波高度;ҕ—反射损失,表面粗糙度2µm,取0.5db;x—工件厚度。
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