[发明专利]一种相干测风激光雷达测风性能分析方法及系统有效
| 申请号： | 201610147395.7 | 申请日： | 2016-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN105807270B | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 贾静宇;禹智斌;王志锐;沈江林;杨川;张明阳 | 申请（专利权）人： | 北京无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司11212 | 代理人： | 杨立 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种相干测风激光雷达测风性能分析方法及系统，其中方法包括步骤1根据期望的设计指标，设置子系统单元中的硬件参数，设置传输逻辑接口单元中的相关指标；设置相干测风激光雷达工作的大气光学特性；步骤2根据设定的参数、指标和大气光学特性模拟相干测风激光雷达进行测风的全过程，通过反馈调试子系统单元中的硬件参数和传输逻辑接口单元中的相关指标以获得达到初始设定阈值的测风精度，得到优化的硬件参数和相关指标，以及不同大气环境下最优测风精度。本发明方便设计出满足要求的相干测风激光雷达，保证前期设计阶段，对系统硬件进行再计算分析，获得最优化的硬件参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相干 激光雷达 性能 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种相干测风激光雷达测风性能分析方法，其特征在于，具体包括以下步骤：步骤1：根据期望的设计指标，设置子系统单元中的硬件参数，设置传输逻辑接口单元中的相关指标；设置相干测风激光雷达工作的大气光学特性；步骤2：根据设定的参数、指标和大气光学特性模拟相干测风激光雷达进行测风的全过程，通过反馈调试子系统单元中的硬件参数和传输逻辑接口单元中的相关指标以获得达到初始设定阈值的测风精度，得到优化的硬件参数和相关指标，以及不同大气环境下最优测风精度；其中，所述步骤2具体包括以下步骤：步骤2.1：根据步骤1设定的参数和相关指标进行模拟相干测风激光雷达系统测风的全过程，得到测风结果；步骤2.2：根据测风结果通过自动修正方法修改子系统单元中的相关参数和传输逻辑接口单元中的相关指标；步骤2.3：根据修改后的参数和指标模拟相干测风激光雷达系统测风的全过程，得到测风结果；步骤2.4：判断当前测风结果的精度是否达到预设的阈值，如果是，执行步骤2.5；否则，返回步骤2.2；步骤2.5：输出得到此测风结果的子系统单元中的硬件参数和传输逻辑接口单元中的相关指标。
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