[发明专利]一种适用于测量复杂结构的测量系统有效
申请号: | 201610147942.1 | 申请日: | 2016-03-16 |
公开(公告)号: | CN105651177B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 吴加富;缪磊;张晓楠 | 申请(专利权)人: | 苏州富强科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人: | 史霞 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种适用于测量复杂结构的测量系统,包括:控制系统;工作台;第一导轨组件,该第一导轨组件包括固接于工作台上的左支座与右支座、第一导轨;测量组件,其可沿第一导轨往复滑移;设于所述工作台之上的自动上下料组件;以及至少一个载具组件,其中,所述检测组件设有至少一个其光源的高度及照射角度可调的补光装置,所述自动上下料组件设有吸料组件,所述载具组件设有用于偏转待测物侧面或内部结构光线的光偏转器,所述测量组件、自动上下料组件、以及载具组件与所述控制系统电连接。本发明通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度,提高对待测物待测物侧面及内部结构的测量精度,并且提高测量成功率及测量效率的有益效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 测量 复杂 结构 系统 | ||
【主权项】:
1.一种适用于测量复杂结构的测量系统,其特征在于,包括:控制系统;工作台;设于所述工作台上的第一导轨组件,该第一导轨组件包括固接于所述工作台上的左支座与右支座、以及跨接于所述左支座与右支座之间的第一导轨;设于所述第一导轨上的测量组件,该测量组件可沿所述第一导轨来回往复地滑移;设于所述工作台之上、第一导轨之下、及左支座与右支座之间的自动上下料组件,该自动上下料组件包括:与所述第一导轨垂直设置的第二导轨、设于所述第二导轨之上的上下料支座、设于所述上下料支座上的吸料组件、以及设于所述第二导轨外侧的至少一个置物台,所述上下料支座可沿所述第二导轨前后往复滑动,所述吸料组件可沿所述上下料支座上下往复滑动,所述上下料支座包括:与所述第二导轨滑动连接的支座底座、以及与所述支座底座垂直且固接的至少一个支座撑板,所述支座撑板包括底部与引导部,所述底部在其下部与所述支座底座固接,所述引导部在所述底部的上部一体式地结合该底部并且沿该底部的宽度方向向内收缩从而形成具有水平台面的两个肩部;以及设于所述自动上下料组件旁侧的至少一个用于夹紧待测物且具有良好透光性的载具组件,该载具组件包括:设于所述自动上下料组件旁侧且与所述第二导轨相平行的第四导轨;以及设于所述第四导轨上的载具,该载具可沿所述第四导轨来回往复滑动,其中,所述载具包括与所述第四导轨滑动连接的载具基座以及设于该载具基座上的夹具支座、夹具压头、载盘组件、以及设于所述载具基座下用于驱动所述夹具压头的旋转气缸,所述载盘组件包括设于所述夹具压头正下方的用于放置待测物的待测物载盘、以及设于所述待测物载盘旁侧的至少一个光偏转器载盘,所述光偏转器包括第一光偏转器与第二光偏转器,所述光偏转器载盘上设有第一光偏转器,所述待测物载盘上设有至少一个第二光偏转器,所述测量组件设有向待测物空间发射补充光的至少一个补光装置,该补光装置被设置成其光源的高度及照射角度可调,所述自动上下料组件设有吸料组件,该吸料组件设有至少一组吸嘴装置,所述载具组件设有用于偏转待测物侧面或内部结构光线的光偏转器,所述测量组件、自动上下料组件、以及载具组件与所述控制系统电连接。
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