[发明专利]反射材、闪烁体阵列、闪烁体阵列的制造方法和放射线检测器在审
| 申请号： | 201610149721.8 | 申请日： | 2016-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN105988152A | 公开（公告）日： | 2016-10-05 |
| 发明（设计）人： | 长谷川仁;村井诚一郎;横井朋美 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
| 主分类号： | G02B5/08 | 分类号： | G02B5/08;G02B1/02;G01T1/202;H01L31/0232 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 张楠;陈建全 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 根据实施方式，提供一种反射材、闪烁体阵列、闪烁体阵列的制造方法和放射线检测器。根据一个实施方式，提供一种所述闪烁体阵列，其含有：隔着间隙而二维排列的多个闪烁体晶体、以及形成于多个闪烁体晶体间的间隙的反射材。反射材含有：选自由硫酸钡、氧化铝和聚四氟乙烯构成的组中的反射粒子、以及作为粘合剂的普通硅酮。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 闪烁 阵列 制造 方法 放射线 检测器 | ||
【主权项】：
一种反射材，其特征在于，其含有：选自由硫酸钡、氧化铝和聚四氟乙烯构成的组中的反射粒子、以及普通硅酮。
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