[发明专利]用于磁共振成像的方法和磁共振设备有效

专利信息
申请号: 201610150892.2 申请日: 2016-03-16
公开(公告)号: CN105988097B 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: A.斯泰默 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/3875 分类号: G01R33/3875;G01R33/565;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 熊雪梅
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及用于磁共振成像的方法、磁共振设备和计算机程序产品。为了针对磁共振成像实现对至少一个匀场通道的改善的调节,提供借助磁共振设备在检查对象的检查区域中进行磁共振成像的方法,方法包括步骤:将检查区域分割为多个子区域;针对至少一个第一匀场通道确定多个第一匀场参数组;考虑所确定的多个第一匀场参数组,针对至少一个第二匀场通道确定第二匀场参数组;采集检查对象的检查区域的磁共振图像数据,其中,在采集磁共振图像数据之前,根据第二匀场参数组调节至少一个第二匀场通道,并且根据针对多个子区域中的一个特定子区域确定的第一匀场参数组,调节至少一个第一匀场通道,用于从该特定子区域中采集磁共振图像数据。
搜索关键词: 匀场 参数组 磁共振成像 磁共振图像数据 磁共振设备 检查区域 检查对象 通道确定 采集 计算机程序产品 子区域确定 子区域 分割
【主权项】:
一种借助磁共振设备在检查对象的检查区域中进行磁共振成像的方法,所述磁共振设备包括匀场单元,其中,所述匀场单元包括具有至少一个第一匀场通道的第一匀场通道集合以及具有至少一个第二匀场通道的第二匀场通道集合,所述方法包括以下方法步骤:‑将检查区域分割为多个子区域,‑针对至少一个第一匀场通道确定多个第一匀场参数组,其中,分别针对多个子区域确定多个第一匀场参数组中的一个第一匀场参数组,‑考虑所确定的多个第一匀场参数组,针对至少一个第二匀场通道确定第二匀场参数组,‑采集检查对象的检查区域的磁共振图像数据,其中,在采集磁共振图像数据之前,根据第二匀场参数组调节至少一个第二匀场通道,并且根据针对多个子区域中的一个特定子区域确定的第一匀场参数组,调节至少一个第一匀场通道,用于从该特定子区域中采集磁共振图像数据,在确定多个第一匀场参数组之前,采集第一B0场图,其中,使用第一B0场图确定多个第一匀场参数组,其中,使用第一B0场图和多个第一匀场参数组计算第二B0场图,以及其中,在确定第二匀场参数组时,以使用第二B0场图确定第二匀场参数组的方式,考虑多个第一匀场参数组。
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