[发明专利]一种吸波暗室的探针位置确定方法及装置在审

专利信息
申请号: 201610153545.5 申请日: 2016-03-17
公开(公告)号: CN105827340A 公开(公告)日: 2016-08-03
发明(设计)人: 王卫民;刘元安;袁源;吴永乐;苏明;黎淑兰;于翠屏 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H04B17/391 分类号: H04B17/391
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 马敬;项京
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开了一种吸波暗室的探针位置确定方法及装置,该方法中,获得目标场景下的待处理测试区域的目标测试范围值;将所述目标测试范围值作为输入值,输入至预先构建的所述目标场景所对应的数据模型中,获得所述数据模型的输出结果;将所获得的输出结果确定为所述待处理测试区域所对应的探针最佳位置。应用本发明实施例,可以提高信道仿真精确度。
搜索关键词: 一种 暗室 探针 位置 确定 方法 装置
【主权项】:
1.一种吸波暗室的探针位置确定方法,其特征在于,所述方法包括步骤:获得目标场景下的待处理测试区域的目标测试范围值;所述待处理测试区域为:包含测试对象的区域,所述测试对象为含有多输入多输出MIMO天线的设备;将所述目标测试范围值作为输入值,输入至预先构建的所述目标场景所对应的数据模型中,获得所述数据模型的输出结果;其中,所述输出结果为:与所述目标测试范围值相关的理论与仿真的空间相关系数之间的均方误差的最小值所对应的关于探针的目标位置;将所获得的输出结果确定为所述待处理测试区域所对应的探针最佳位置;其中,所述目标场景所对应的数据模型的构建方式如下:利用预衰落合成技术,分别计算探针处于各个目标位置时所述目标场景下的预设测试区域的所有取样点的理论与仿真的空间相关系数之间的均方误差,其中,所述目标位置为所述探针按照预设位置变化规则在所述预设测试区域内进行位置变化后所处的位置;利用预衰落合成技术,分别计算探针处于预设位置时所述目标场景下的各个目标测试区域内所述所有采样点的理论与仿真的空间相关系数之间的均方误差,其中,各个目标测试区域为根据预定范围变化规则进行范围变化所得的区域范围,该预设位置处于每一目标测试区域内;根据各个目标测试区域的测试范围值、所述探针所处的各个目标位置、所得理论与仿真的空间相关系数之间均方误差的对应关系,建立所述目标场景所对应的数据模型。
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