[发明专利]基于表面波倏逝场的痕量液体或气体折射率测量装置在审

专利信息
申请号: 201610155589.1 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN105628651A 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 刘建华;张克;陶李 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于导波光学技术领域,具体为一种基于表面波倏逝场强度变化的痕量液体或气体折射率测量装置。本发明的测量装置包括:测量光束,半柱形耦合透镜,波导衬底层,导流层接入口,导流层,导流层接出口,玻璃基底,周期性介质膜层,波导覆盖层,锥形光纤探头,传导光纤,光电测量系统。当导流层内被导入不同的待测液体或气体时,在波导覆盖层中的表面波倏逝场强度将会在较大范围内呈现单调变化,这个变化可由锥形光纤探头及传导光纤传入光电测量系统测量得到。采用本发明的装置可以进行折射率的精确测量及传感应用。
搜索关键词: 基于 表面波 倏逝场 痕量 液体 气体 折射率 测量 装置
【主权项】:
 一种基于表面波倏逝场强度变化的痕量液体或气体折射率测量装置,其特征在于包括:一个复合平面光波导、 棱镜耦合机构,、表面波倏逝场测量机构;其中,所述复合平面光波导由波导衬底层(3)、导流层(5)、玻璃基底(7)、周期性介质膜层(8)、波导覆盖层(9) 从下往上依次复合构成;所述棱镜耦合机构由测量光束(1)及半柱形耦合透镜(2)构成,该半柱形耦合透镜(2)与波导衬底层(3)配合连接;所述表面波倏逝场测量机构由锥形光纤探头(10)、传导光纤(11)及光电测量系统(12)依次连接构成;导流层(5)有接入口(4)和接出口(6),待测液体或气体经由接入口(4)进入波导结构内,由接出口(6)导出。
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