[发明专利]一种利用外推获得具有多次散射目标远场RCS的方法

摘要

本发明提出一种基于近场完备双站信息的近场散射外推方法。该方法首先在获取目标全角域的近场双站散射信息后，对各角度下采集的近场散射数据进行外推处理，然后根据互易定理，将外推后的数据等效为“远场发射、近场接收”数据。接下来对该数据再进行一次外推，使其满足“远场发射、远场接收”的条件，最后取出对角线上的元素获得各角度的远场RCS。

主权项

一种基于多次散射目标的近远场外推方法，其特征在于步骤如下：步骤1：在测量半径满足近场条件R＜2D2/λ的空间内，对待测目标进行散射测量得到完备的近场双站散射数据ENN(θtN,θrN)，ENN(θtN,θrN)采用矩阵形式表示；其中，上标NN表示近场发射、近场接收；θtN表示各发射角度，范围为‑180°～180°，间隔为1°，t＝1,2,……,361；θrN表示各接收角度，范围为‑180°～180°，间隔为1°，r＝1,2,……,361，D为目标最大尺寸；步骤2：采用基于合成孔径成像的外推算法，将ENN(θtN,θrN)的每一行作外推计算得到ENF(θtN,θrF)；其中，上标NF表示近场发射、远场接收；步骤3：根据互易定理，将步骤2得到的外推数据ENF(θtN,θrF)等效为EFN(θrN,θtF)；其中，上标FN表示远场发射、近场接收；步骤4：采用基于合成孔径成像的外推算法，将EFN(θrN,θtF)的每一列作外推计算得到EFF(θrF,θtF)；其中，上标FF表示远场发射、远场接收；步骤5：提取EFF(θrF,θtF)矩阵对角线数据，即为各角度下的后向单站远场RCS。