[发明专利]IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法及装置有效
| 申请号： | 201610156973.3 | 申请日： | 2016-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN105699775B | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 周雒维;张晏铭;蔡杰;彭英舟;王凯宏;孙鹏菊;杜雄 | 申请（专利权）人： | 重庆大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 11129 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 谢殿武 |
| 地址： | 400044 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供的IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法，包括对IGBT加热，测量小电流密度下FWD导通压降；对FWD加热，测量小电流密度下IGBT的饱和压降，根据测量小电流密度下FWD导通压降和IGBT的饱和压降，间接获取IGBT与FWD结温变化曲线，计算得到连续变化的耦合热阻抗曲线，通过所述耦合热阻抗曲线拟合得到IGBT与FWD的耦合热阻抗；本发明通过较为简单的方法通过对端部电气特征量的测量来提取IGBT模块的耦合热阻抗，进而建立较为完善的IGBT综合热网络模型，本发明通过将IGBT模块视为一个黑盒子，忽略其内部封装结构，在不破坏模块封装的情况下，利用现有的热敏参数法测量热阻的原理，采用离散化测量方波，实现对耦合热阻抗的测量，本发明具有简单有效、响应快速、测量准确的优点。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 耦合 阻抗 离散 方波 提取 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法，其特征在于：包括对IGBT加热，测量FWD导通压降及其壳温变化曲线；对FWD加热，测量IGBT的饱和压降及其壳温变化曲线，通过对FWD导通压降和IGBT的饱和压降的测量，获取IGBT与FWD的结温，根据所测FWD和IGBT结温和壳温变化曲线得到IGBT与FWD连续变化的耦合热阻抗曲线，通过所述耦合热阻抗曲线拟合获取IGBT与FWD的耦合热阻抗；/n还包括标定IGBT饱和压降及FWD导通压降与结温对应的温敏参数曲线，并根据所述温敏参数曲线，获取IGBT与FWD结温变化曲线，根据结温和壳温变化曲线逐点计算IGBT与FWD耦合热阻抗，获取连续变化的耦合热阻抗曲线，根据所述耦合热阻抗曲线获取耦合热阻抗；/n所述标定IGBT饱和压降及其反并联二极管(FWD)导通压降与结温对应的温敏参数曲线，具体包括：/n分别在恒温箱中测量IGBT的饱和压降V
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