[发明专利]绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法在审
| 申请号： | 201610157134.3 | 申请日： | 2016-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN105588789A | 公开（公告）日： | 2016-05-18 |
| 发明（设计）人： | 梅红伟;王黎明 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 王震宇 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法，包括以下步骤：判断待检的绝缘子表面的污秽量，当判断绝缘子表面的污秽量不低于预定量时，利用激光粒度仪对绝缘子表面污秽的粒径分布进行测量，当判断绝缘子表面的污秽量低于预定量时，利用电子显微镜拍摄绝缘子表面的图像，分析所述图像以对绝缘子表面污秽的粒径分布进行统计，测出绝缘子表面污秽的粒径分布。本发明弥补了现有激光粒度仪测量方法的不足，能够对污秽等级较低、积污期较短等地区的绝缘子表面污秽粒径分布进行测量和分析。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子 表面 污秽 粒径 分布 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种绝缘子表面污秽粒径分布的检测方法，其特征在于,包括以下步骤：S1、判断待检的绝缘子表面的污秽量，当判断绝缘子表面的污秽量不低于预定量时，进入步骤S2，当判断绝缘子表面的污秽量低于预定量时，进入步骤S3；S2、利用激光粒度仪对绝缘子表面污秽的粒径分布进行测量；S3、利用电子显微镜拍摄绝缘子表面的图像，分析所述图像以对绝缘子表面污秽的粒径分布进行统计，测出绝缘子表面污秽的粒径分布。
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