[发明专利]一种纳米级三维量子热像仪有效

专利信息
申请号: 201610157837.6 申请日: 2016-03-18
公开(公告)号: CN105651394B 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 李本强;宣劭文;江新兵;刘红忠;洪军 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G02B21/36;G02B27/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贺建斌
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种纳米级三维量子热像仪,包括激光器,在其光路上设置有放有含量子点样品的载物台,激光照射样品,经物镜放大成像,再经半反半透镜分成反射、透射光路,半反半透镜的反射光经第一滤波片过滤掉与激光器发出的激光波长不一致的光,经半反半透镜反射得到的像位于第一透镜的前焦面,相位调制器位于第一透镜的后焦面,相位调制器位于第二透镜的前焦面,CCD位于第二透镜的后焦面,相位调制器、CCD与计算机连接,在透射光路上设置有反射镜,在反射镜的反射光路上设置有第二滤波片和光谱测量仪,第二滤波片过滤掉与激光器发出的激光波长相同的光,光谱测量仪与计算机连接,将量子点的定位和温度测量结合,实现了纳米级三维温度场测量。
搜索关键词: 一种 纳米 三维 量子 热像仪
【主权项】:
1.一种纳米级三维量子热像仪,包括激光器(1),其特征在于:在激光器(1)发出的激光光路上依次设置有载物台(3)、物镜(4)和半反半透镜(5),载物台(3)上放置有含有若干量子点(2)的样品,激光器(1)发出激光照射在样品上,样品和量子点(2)经物镜(4)放大成像,再经半反半透镜(5)作用分成两路光路,一路为反射光路,一路为透射光路,在半反半透镜(5)的反射光路上依次设置有第一滤波片(6)、第一透镜(7)、相位调制器(8)、第二透镜(9)、CCD(10),半反半透镜(5)的反射光经第一滤波片(6)过滤掉与激光器(1)发出的激光波长不一致的光,经半反半透镜(5)反射得到的像位于第一透镜(7)的前焦面,相位调制器(8)位于第一透镜(7)的后焦面,相位调制器(8)同时也位于第二透镜(9)的前焦面,相位调制器(8)与计算机(14)连接,CCD(10)位于第二透镜(9)的后焦面,CCD(10)与计算机(14)连接,在半反半透镜(5)的透射光路上设置有反射镜(11),在反射镜(11)的反射光路上设置有第二滤波片(12)和光谱测量仪(13),第二滤波片(12)过滤掉与激光器(1)发出的激光波长相同的光,光谱测量仪(13)与计算机(14)连接。
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