[发明专利]一种测试性设计中测试点定量选择方法及装置

摘要

本发明公开了一种测试性设计中测试点定量选择方法及装置，属于测试性优化设计领域，包括步骤1：建立故障模式与测试点之间的相关性矩阵；步骤2：根据相关性矩阵，分别定义测试性参数检测率(FDR)、隔离率(FIR)；步骤3：建立约束条件：FIR>β；优化目标函数：步骤4：采用遍历搜索或者智能搜索算法，得到使目标函数值Fx最小的测试点集合，此测试点集合即为最优测试点集合；与现有技术相比，本发明能够有效提高大规模复杂航电系统测试性设计效果，提高测试性设计指标检测率，隔离率，并降低测试性设计成本。

主权项

一种测试性设计中测试点定量选择方法，包括以下几个步骤：步骤1：建立故障模式与测试点之间的相关性矩阵：其中，备选测试集合为T＝{t_i}，i＝1,2,3…n，n表示系统中所设置的测试点的总数，t₁，t₂…t_n是备选测试点；故障集合为F＝{f_i}，i＝1,2,3…m，m表示系统中的故障模式的总数，f₁、f₂…..f_m是系统或者设备故障模式；步骤2：根据相关性矩阵，分别获取测试性参数检测率FDR、隔离率FIR：F′为无法被检测故障F^*为无法被隔离故障；步骤3：定义C为所选测试点总的测试费用，建立约束条件：FIR>β，优化目标函数：其中，β均为设计要求值，w₁、w₂、w₃为设定值，w₁,w₂,w₃分别代表按照不同系统或者故障模式所确定的优化权值；步骤4：采用搜索算法，得到使目标函数值Fx最小的测试点集合，此时测试点集合即为最优测试点集合。