[发明专利]一种扁桃果实发育期叶片氮、磷和钾测定方法有效
| 申请号： | 201610162896.2 | 申请日： | 2016-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN105806791B | 公开（公告）日： | 2018-05-25 |
| 发明（设计）人： | 庄红梅;徐叶挺;师帅;谢辉;樊丁宇;张雯;卢明艳;韩宏伟;韩立群;韩守安;杨波 | 申请（专利权）人： | 新疆农业科学院园艺作物研究所 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/359 |
| 代理公司： | 哈尔滨市文洋专利代理事务所(普通合伙) 23210 | 代理人： | 何强 |
| 地址： | 830091 新疆维吾尔自*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | 一种扁桃果实发育期叶片氮、磷和钾测定方法，它涉及一种扁桃果实发育期营养元素的测定方法。它解决了化学分析扁桃这种多年生果树营养元素时存在需化学检测设备，检测速度慢，对植株、叶片有损害等问题，以及现有光谱分析技术主要用于一年生草本作物的N元素实时检测，对P和K元素识别不敏感的问题。测定方法：先测定果实发育期扁桃叶片的反射率；然后根据N、P、K的计算公式计算出N、P和K元素的含量。本发明方法利用光谱分析技术可以测定座果期扁桃叶片中N、P、K元素的含量，以及果实膨大期扁桃叶片中N元素的含量，且测定数据准确。 | ||
| 搜索关键词： | 扁桃 叶片 果实 光谱分析技术 营养元素 叶片氮 多年生果树 果实膨大期 一年生草本 测定数据 化学分析 化学检测 计算公式 实时检测 元素识别 植株 不敏感 反射率 座果期 检测 损害 | ||
【主权项】：
1.一种扁桃果实发育期叶片氮、磷和钾测定方法，其特征在于扁桃果实发育期叶片氮、磷和钾的测定方法，按以下步骤进行：先测定果实发育期扁桃叶片的反射率；然后根据N、P、K的计算公式计算出N、P和K元素的含量；扁桃座果期叶片N元素计算公式为Y＝-2051.4471-7099.5965X-6048.4479X2 ；其中Y为扁桃座果期叶片N元素含量，单位为g/kg，X为LgR823 +LgR880 ，R823 为扁桃座果期叶片表面对波长为825nm光的反射率，R880 为扁桃座果期叶片表面对波长为880nm光的反射率；扁桃果实膨大期叶片N元素计算公式为Y＝(21.8812+39.8456A+24.3772A2 +5.1255A3 )/(0.005188A3 )；其中Y为扁桃果实膨大期叶片N元素含量，单位为g/kg，A为LgR382 +LgR383 ，R382 为扁桃果实膨大期叶片表面对波长为382nm光的反射率，R383 为扁桃果实膨大期叶片表面对波长为383nm光的反射率；扁桃座果期叶片P元素计算公式为W＝(-0.000003+0.000803B-0.070160B2 +2.8169B3 )/(0.407026B3 )；其中W为扁桃座果期叶片P元素含量，单位为g/kg，B为Lg(R789 +R790 )，R789 为扁桃座果期叶片表面对波长为789nm光的反射率，R790 为扁桃座果期叶片表面对波长为790nm光的反射率；扁桃座果期叶片K元素计算公式为Z＝(-7.7960+22.5853C-21.8023C2 +7.0133C3 )/0.000032C3 ；其中Z为扁桃座果期叶片K元素含量，单位为g/kg，C为R830 +R850 ，R830 为扁桃座果期叶片表面对波长为830nm光的反射率，R850 为扁桃座果期叶片表面对波长为850nm光的反射率。
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