[发明专利]一种双栅极鳍式场效应晶体管的制备方法有效

专利信息
申请号: 201610163777.9 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN105632936B 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 鲍宇 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/28;H01L29/423
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;陈慧弘
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种双栅极鳍式场效应晶体管的制备方法,包括在半导体衬底上形成鳍结构,沉积氧化物层并平坦化至鳍结构露出,沉积硬质掩膜层并图形化,对露出的鳍结构一侧的氧化物层进行回刻,去除剩余的硬质掩膜层,再次对鳍结构两侧的氧化物层同时进行回刻,在鳍结构两侧形成具有高度差的氧化物层,在鳍结构表面形成栅极介电层和栅极材料并图形化,去除鳍结构顶部的栅极材料,在鳍结构两侧形成控制栅高度大于驱动栅的双栅极结构,可以降低有效沟道底部的漏电流。
搜索关键词: 一种 栅极 场效应 晶体管 制备 方法
【主权项】:
1.一种双栅极鳍式场效应晶体管的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S01:提供一半导体衬底,在所述半导体衬底上形成鳍结构;步骤S02:沉积氧化物层,将鳍结构覆盖,然后平坦化至所述鳍结构露出;步骤S03:沉积硬质掩膜层,将氧化物层和鳍结构覆盖,然后图形化,露出鳍结构其中一侧的氧化物层;步骤S04:对露出一侧的氧化物层进行部分回刻,然后去除剩余的硬质掩膜层,使鳍结构另一侧的氧化物层露出,接着对鳍结构两侧的氧化物层同时进行部分回刻,在鳍结构两侧形成具有高度差的氧化物层;步骤S05:在鳍结构表面形成栅极介电层,随后沉积栅极材料并图形化;步骤S06:去除鳍结构顶部的栅极材料,在鳍结构两侧分别形成驱动栅和控制栅;其中,控制栅的高度大于驱动栅的高度。
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