[发明专利]基于皮肤图像信息处理的年龄测试方法有效

专利信息
申请号: 201610164827.5 申请日: 2016-03-22
公开(公告)号: CN105844236B 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 贺向前;薛锦霞;江正;李玲玉 申请(专利权)人: 重庆医科大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136
代理公司: 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 代理人: 余锦曦
地址: 400016*** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种基于皮肤图像信息处理的年龄测试方法,通过挖掘皮肤表面随年龄变化的纹理信息,尝试为医学工作者提供一种新的简便无创的年龄推断方法。首先无创采集前臂腹侧中段部位皮肤图像,然后对采集的皮肤图像进行预处理以及特征提取,得到了皮沟和皮嵴的相关参数,并运用统计学方法分析这些参数与年龄的相关性,得出推断年龄的数学模型。统计结果表明,本方法中的皮肤纹理参数均与年龄有较高的线性相关性,将统计分析得到的年龄推断模型进行测试,能够得到较高的准确率,证明了本文方法推断年龄的有效性,并且由于其所需成本低,有望用于医学年龄的客观推断。
搜索关键词: 基于 皮肤 图像 信息处理 年龄 测试 方法
【主权项】:
1.一种基于皮肤图像信息处理的年龄测试方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:通过数码显微镜获取皮肤表面图像,该数码显微镜的镜头上套接有带偏振光镜的透明基座;S2:图像预处理,包括灰度变换、纹理增强以及图像分割处理;S3:皮肤纹理线提取,用于提取皮肤表面纹理线;其具体步骤为:S31:采用形态学增强方法将图像中的亮细节提取出来;S32:采用均值滤波进行滤波处理S33:采用大津阈值分割法将预处理后的皮肤图像分割为背景和目标两部分;S34:对分割后得到的图像进行分水岭变换,从而可以清晰地获得皮肤表面纹理线;S4:皮肤纹理参数计算,所述皮肤纹理参数是由皮沟的平均宽度、皮嵴的平均面积以及纹理交点密度三者组合而成;其中皮沟的总面积为步骤S3处理后图像中黑色像素点的总和,通过计算单像素宽度皮肤纹理图像中黑色像素总和即为皮沟的长度;其中,皮嵴的总面积为步骤S3处理后图像中白色像素总,通过统计单像素宽度皮肤纹理图像中白色皮嵴块的个数即得皮嵴个数;S5:将年龄作为因变量,将步骤S4所得的皮肤纹理参数作为自变量,进行多元线性回归分析,得到年龄估计值;其中:针对女性而言,所采用的多元线性回归分析模型为:Age=3.256+8.729PG‑0.003PJ‑0.516JD;针对男性而言,所采用的多元线性回归分析模型为:Age=33.722+4.664PG+0.00006427PJ‑0.471JD;其中Age为多元线性回归分析模型估计出的年龄值,PG为皮沟平均宽度,PJ为皮嵴平均面积,JD为纹理交点密度;根据纹理参数建立的数据库,采用皮尔逊相关性分析研究纹理参数与年龄的相关性,得出无论是男性或者女性,皮沟平均宽度以及皮嵴平均面积随年龄增加而增加,存在正相关关系,纹理交点密度随年龄的增加而减小,存在负相关关系,进一步通过皮肤纹理参数与年龄之间的变化趋势图观察分析:女性皮沟平均宽度、男性皮沟平均宽度、女性皮嵴平均面积、男性皮嵴平均面积、女性交点个数、男性交点个数,得出单个参数下皮沟的平均宽度、皮脊的平均面积、纹理交点密度随年龄变化趋势明显,此变化趋势是数据库中所采集的参数是人体皮肤发育受内外因素共同叠加影响的结果;通过相关性分析证实皮沟平均宽度、皮嵴平均面积以及交点个数这三个特征参数与年龄之间存在联系,用多元回归分析建立皮肤纹理特征参数与年龄之间的回归模型,得出不论男性女性,显著性概率都为0.000,表明回归模型显著,回归方程有统计学意义,多个皮肤纹理形态特征参数均与年龄有较高的相关性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆医科大学,未经重庆医科大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610164827.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top